Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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DF: Dielektrische Festkörper

DF 6: Poster

DF 6.24: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 09:30–12:30, A

Untersuchung der zwei L"angenskalen in der kritischen Streuung an unterschiedlichen SrTiO₃ Proben — •H. Hünnefeld, U. R"utt, T. Niem"oller, and J.R. Schneider — HASYLAB at DESY, Hamburg

Die kritische Streuung am strukturellen Phasen"ubergang von SrTiO₃ wurde an unterschiedlichen Proben mit Hilfe von hochenergetischer Synchrotronstrahlung untersucht. Wir zeigen, da"s das Auftreten der scharfen Komponente stark vom Perfektionsgrad des Kristalls abh"angt, bei sehr imperfekten Kristallen ist die scharfe Komponente erst nach Einbringen von massiven Defekten, z.B. durch Reduktion, beobachtbar. Das Temperaturverhalten der breiten Komponente ist jedoch bei allen Proben vergleichbar: Das Verh"altnis der kritischen Exponenten f"ur die Suszeptibilit"at und die inverse Korrelationsl"ange betr"agt jeweils 2.15 ±0.15. Hochaufl"osende Messungen von Mosaizit"at, Gitterparamterfluktuation sowie der kritischen Streuung am PETRA-Undulatorstrahl best"atigen die Messungen von R"utt et al.[1], da"s die scharfe Komponente in einer oberfl"achennahen Schicht von ca. 100 µm lokalisiert ist.

[1] U. R"utt, A. Diederichs, J.R. Schneider and G. Shirane, Europhys. Lett. 39, 395–400 (1997)