Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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DF: Dielektrische Festkörper

DF 7: Gläser II

DF 7.6: Vortrag

Donnerstag, 26. März 1998, 17:10–17:30, H11

Anwendung der EXAFS-Spektroskopie zur Aufklärung der Nahordnung in oxidischen Gläsern — •G. Mosel, M. Nofz und Th. Hübert — Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 12200 Berlin

An ausgewählten Beispielen werden die Vorteile der EXAFS-Spektroskopie (insbesondere ihr elementspezifischer Charakter) bei der Analyse der Nahordnung in mehrkomponentigen oxidischen Gläsern aufgezeigt.
In Gläsern des Systems ZnO-B₂O₃-V₂O₅ erlaubt die Methode eine separate Untersuchung der Nahordnung der Zn²⁺- und V⁵⁺-Ionen, wodurch eine Aufklärung der Beziehungen zwischen Glaszusammensetzung und Koordination der Zn²⁺- und V⁵⁺-Ionen möglich wird.
An zwei Gläsern des Systems Na₂O-B₂O₃ wurden EXAFS-Untersuchungen an der K-Absorptionskante des Sauerstoffs durchgeführt, um das quantitative Verhältnis von Brücken- und Trennstellensauerstoffatomen, das die makroskopischen Eigenschaften dieser Gläser wesentlich beeinflußt, zu bestimmen.
Basierend auf den erhaltenen Strukturinformationen werden Modelle zur Beschreibung der geometrischen Nahordnung in Gläsern der untersuchten Systeme entwickelt.