Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm
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DS: Dünne Schichten
DS 11: Charakterisierungsverfahren II
DS 11.2: Fachvortrag
Dienstag, 24. März 1998, 18:00–18:15, H 31
Mikroskopische Charakterisierung von epitaktischen YBa2Cu3O7−δ Filmen — •R. Platzer, I. Dumkow, J.A. Gardner und J. Tate — Oregon State University, Department of Physics, Weniger Hall 301, Corvallis, OR 97331-6507
Epitaktische YBa2Cu3O7−δ Filme bilden den Ausgangspunkt für die kommerzielle Anwendung der hochtemperatur Supraleiter. Daher ist ein detailliertes Verständnis der Mikrostruktur dieses Systems unabdingbar. Wir haben 200nm dünne Filme in c- und a-Achsen Orientierung mit verschiedenem Sauerstoffgehalt sowohl in der orthorhombischen als auch in der tetragonalen Phase untersucht. Verwendet wurde hierzu die gestörte γγ-Winkelkorrelation, eine der NMR/NQR verwandte Methode. Die Filme wurden durch simultanes reaktives Aufdampfen der Komponenten in der gewünschten Stöchiometrie unter geeignetem Sauerstoff-Partialdruck hergestellt. Während des Aufdampfens wurden auch die Sondenatome in sehr geringer Konzentration in den Film eingebaut [1]. So kann die mikroskopische Struktur des Materials über die Wechselwirkung der Sondenatome mit den umgebenden elektronischen Ladungsverteilungen, verursacht durch das einbettende Gitter, direkt beobachtet und Informationen über Sauerstoff Mobilität, lokale Ordnung, Phasen und elektronische Struktur gewonnen werden. Die Messungen wurden bei verschiedenen Temperaturen und Sauerstoff-Partialdrücken durchgeführt.
[1] D.W. Tom, R. Platzer, J.A. Gardner, J. Tate, Appl. Phys. Lett.63 (1993) 3224