Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 15: Organische Schichten

DS 15.1: Fachvortrag

Dienstag, 24. März 1998, 18:15–18:30, H 34

Rastertunnelmikroskopie an Endohedralen Fullerenen und Nanoröhren — •R. Ehlich¹, L. P. Biro² und I. V. Hertel¹ — ¹Max Born Institut für Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie, Rudower Chaussee 6, D- 12489 Berlin — ²KFKI Research Institute for Materials Science, H-1525 Budapest, P.O. Box 49, Ungarn Rudower Chaussee 6, D- 12489 Berlin

Endohedrale Fullerene (z.B. Li@C60) wurden durch Implantation von Metallionen mit wohl definierter kinetischer Energie in Fullerene Schichten erzeugt. Die Anreicherung des Materials erfolgt durch Lösungsverfahren oder durch chromatographische Extraktion . Dünne Schichten mit einem sehr hohen Anteil an endohedralen Fullerenen erhält man durch schonende Sublimation des gereinigten Materials. Schichtsysteme auf verschiedenen Substraten (z.B. HOPG, Au, Ni) wurden mit dem RTM untersucht und tunnelspektrosk opische Messungen wurden durchgeführt um die endohedralen von den ungefüllten Fullerenen zu unterscheiden. Weiterhin sollen RTM Messungen an Ionenbestrahlten Nanoröhren auf HOPG vorgestellt werden.