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DS: Dünne Schichten

DS 24: Postersitzung

DS 24.48: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 15:00–19:00, PF A

Präparation und elektronenmikroskopische Charakterisierung von heteroepitaktischen Schichtsystemen — •B. Wiedenhorst¹, C. Höfener², B. Freitag³, W. Mader³ und R. Gross² — ¹Universität zu Köln, II. Physikalisches Institut, Zülpicher Straße 77, 50934 Köln — ²Universität zu Köln, II. Physikalisches Institut, Zülpicher Straße 77, 50934 Köln — ³Universität Bonn, Institut für Anorganische Chemie, Römerstraße 164, 53117 Bonn

Mehrschichtstrukturen von YBa₂Cu₃O₇/SrTiO₃ (YBCO/STO) auf
SrTiO₃- bzw. NdGaO₃- (NGO) Substraten wurden mittels Laser-Ablation präpariert. Als Substrat wurde STO bzw. NGO in [001] Orientierung gewählt. Auf diese Weise wird c-Achsenwachstum von YBCO erreicht. Die Einzelschichten lassen sich gezielt über die Wahl der Präparationsparameter verändern. Elektronenmikroskopische Untersuchungen an Dünnschichtsystemen mit unterschiedlichen Schichtdicken machen den Einfluß der Schichtdicke auf das epitaktische Wachstum deutlich. Mittels HRTEM wurden sowohl die Mikrostruktur der Einzelschichten als auch die Grenzschichten YBCO/STO bzw. YBCO/NGO untersucht. Weiterhin wird die Stöchiometrie der Einzelschichten durch hochauflösende EDX überprüft.