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DS: Dünne Schichten

DS 7: Optische Eigenschaften I

Dienstag, 24. März 1998, 11:15–12:15, H 31

	11:15	DS 7.1	Fachvortrag: Charakterisierung von dünnen BaxSr1−xTiO3 Schichten durch spektroskopische Ellipsometrie — •S. Schlamminger, E. Fritsch, G. Beitel, W. Pamler und H. von Philipsborn
	11:30	DS 7.2	Fachvortrag: IR-Transmissionsspektroskopie an ultradünnen morphologisch unterschiedlichen Eisenfilmen auf Ionenkristallen — •G. Fahsold, A. Bartel, O. Krauth, A. Lehmann und K. H. Rieder
	11:45	DS 7.3	Fachvortrag: Spektralellipsometrie an MOVPE-GaAs mit (InAs/AlAs) Supergittern (SL) — •H. Schmidt, B. Rheinländer, V. Gottschalch* und G. Wagner*
	12:00	DS 7.4	Fachvortrag: Reversible moisture absorption in mixed-phase boron nitride thin films by spectroscopic ellipsometry — •Eva Franke, M. Schubert, J.-D. Hecht, H. Neumann, T. E. Tiewald, J. A. Woollam, J. Hahn, and Th. Welzel