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HL: Halbleiterphysik

HL 15: Störstellen

HL 15.3: Vortrag

Dienstag, 24. März 1998, 11:00–11:15, H13

Strahlenschäden in Sperrschicht-CCDs — •B. Schmalhofer^1,2, N. Meidinger¹ und H. von Philipsborn² — ¹Halbleiterlabor der Max-Planck-Institute für Physik und für extraterrestrische Physik, 81245 München — ²Universität Regensburg, Fakultät Physik, 93040 Regensburg

Der neuartige Sperrschicht-CCD wurde als Fokalebenendetektor für den europäischen Röntgensatelliten XMM entwickelt. Der Detektor dient zur Abbildung und Spektroskopie von Röntgenstrahlung im Energiebereich von 0.1 bis 15 keV. Zur Untersuchung der Strahlenhärte wurde der CCD mit Protonen und Alphateilchen bestrahlt. Durch Strahlenschädigung entstehen tiefe Störstellen im Silizium, welche durch Elektroneneinfang zu Signalhöhenverlusten während des Ladungstransportes führen. Durch Messungen mit dem CCD selbst, und durch zusätzlichen Messungen mit DLTS, lassen sich die erzeugten Störstellen charakterisieren und identifizieren [1]. Aufgrund des Detektordesigns und durch Optimierung der Betriebstemperatur und der zeitlichen Ansteuerung ist während der Lebenszeit des Satelliten nur eine geringe Verschlechterung der Energieauflösung zu erwarten [2].

[1] N. Meidinger, L. Strüder, P. Holl, H. Soltau, C. von Zanthier, Nucl. Instr. and Methods in Phys. Res. A 377(2), 298 (1996)

[2] B. Schmalhofer, Diplomarbeit an der Fakultät Physik, Universität Regensburg,1997