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HL: Halbleiterphysik
HL 15: Störstellen
HL 15.3: Talk
Tuesday, March 24, 1998, 11:00–11:15, H13
Strahlenschäden in Sperrschicht-CCDs — •B. Schmalhofer1,2, N. Meidinger1 und H. von Philipsborn2 — 1Halbleiterlabor der Max-Planck-Institute für Physik und für extraterrestrische Physik, 81245 München — 2Universität Regensburg, Fakultät Physik, 93040 Regensburg
Der neuartige Sperrschicht-CCD wurde als Fokalebenendetektor für den europäischen Röntgensatelliten XMM entwickelt. Der Detektor dient zur Abbildung und Spektroskopie von Röntgenstrahlung im Energiebereich von 0.1 bis 15 keV. Zur Untersuchung der Strahlenhärte wurde der CCD mit Protonen und Alphateilchen bestrahlt. Durch Strahlenschädigung entstehen tiefe Störstellen im Silizium, welche durch Elektroneneinfang zu Signalhöhenverlusten während des Ladungstransportes führen. Durch Messungen mit dem CCD selbst, und durch zusätzlichen Messungen mit DLTS, lassen sich die erzeugten Störstellen charakterisieren und identifizieren [1]. Aufgrund des Detektordesigns und durch Optimierung der Betriebstemperatur und der zeitlichen Ansteuerung ist während der Lebenszeit des Satelliten nur eine geringe Verschlechterung der Energieauflösung zu erwarten [2].
[1] N. Meidinger, L. Strüder, P. Holl, H. Soltau, C. von Zanthier, Nucl. Instr. and Methods in Phys. Res. A 377(2), 298 (1996)
[2] B. Schmalhofer, Diplomarbeit an der Fakultät Physik, Universität Regensburg,1997