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M: Metallphysik

M 22: Struktur und Umwandlungen II

M 22.7: Vortrag

Donnerstag, 26. März 1998, 12:30–12:50, H 39

Polarisations-Photoemissionselektronenmikroskopie an polykristallinem Kupfer — •Gebhard K.L. Marx, M. Dunin v. Przychowski, C. M. Schneider und G. Schönhense — Institut für Physik, Johannes Gutenberg-Universität Mainz

Die Schwellenphotoemissionselektronenmikroskopie bietet die Möglichkeit, orts- und zeitaufgelöste Informationen über die Elektronenemission (EE) an der Oberfläche zu gewinnen. Die Emission ist sehr sensitiv auf den Polarisationszustand (PZS) der einfallenden Strahlung in Bezug auf die Oberflächennormale und die Orientierung der Kristallite, falls diese lichtoptisch doppelbrechend sind. Deshalb wurden Zwillingskristallite in der Probe erzeugt, die als lichtopt. doppelbrechend nachgewiesen worden sind. Diese Eigenschaft macht sich auch in der EE bemerkbar, so daß ein direkter Zusammenhang zwischen dem licht- und elektronenopt. Dichroismus in der EE gefolgert werden kann. Die Metalloptik hat einen wesentlichen Einfluß auf den PZS innerhalb der Probe und beeinflußt die EE derart, daß Auswahlregeln für die EE aufgestellt werden können. Durch den Vergleich zwischen licht- und elektronenopt. Aufnahmen kann der Einfluß der Metalloptik auf die EE direkt sichtbar gemacht werden.