Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 10: Teilchen und Cluster

O 10.3: Vortrag

Montag, 23. März 1998, 16:45–17:00, H44

TEM-Untersuchungen an Pt- und Pd-Clustern auf
γ-Al₂O₃/NiAl(110) — •M. Klimenkov, S. Nepijko, M. Adelt, H. Kuhlenbeck und H.–J. Freund — Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Abteilung Chemische Physik, Faradayweg 4-6, D-14195 Berlin

Durch Ausdünnen mit einem Ionenstrahl wurde eine NiAl(110)- Probe für Untersuchungen mit Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) vorbereitet. Eine etwa 5Å dicke, γ-Al₂O₃-artige Oxidschicht mit (111)- Orientierung wurde durch Oxidation im Ultrahochvakuum präpariert und anschließend mit Pd- oder Pt-Clustern belegt. Beugung des Elektronenstrahls im Transmissionselektronenmikroskop an der NiAl(110)-Unterlage mit nachfolgender Beugung an den deponierten Clustern führte zur Ausbildung von Moiré-Mustern, welche es erlaubten, die Gitterkonstante der Cluster als Funktion der Clustergröße zu bestimmen. Durch Verkippung der Probe relativ zum Elektronenstrahl konnten einzelne Moiré-Muster gezielt verstärkt werden, so daß es möglich war, Kristallrichtungen definiert auszuwählen. Für beide Metalle wurde eine mit abnehmender Clustergröße zunehmende Verringerung der Gitterabstände gefunden. 1 nm große Cluster wiesen Gitterkontraktionen von 9 % (Pt) und 4 % (Pd) auf. Ein Grund für die geringere Gitterkontraktion der Pd-Cluster ist vermutlich, daß Pd höhere Inseln als Pt ausbildet, was die Wechselwirkung mit der Unterlage und die Größe der Oberfläche verringert.