Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 11: Poster (I)

O 11.15: Poster

Montag, 23. März 1998, 19:30–22:30, Bereich C

Untersuchungen an Si-Vicinalflächen mit hochauflösender Beugungsanalyse (SPA - RHEED) im Vergleich mit Monte-Carlo-Simulationen — •H. Frischat.¹, M. I. Larsson² und M. Henzler¹ — ¹Institut für Festkörperphysik, Universität Hannover, Appelstraße 2, 30175 Hannover — ²Department of Natural Science, Karlstad University, S-651 88 Karlstad, Schweden

Das neuentwickelte Instrument fr die Reflexprofilanalyse der Beugungsmuster von hochenergetischen Elektronen (SPA-RHEED) bietet nun die Möglichkeit, Schnitte in beliebiger Orientierung im reziproken Raum aufzunehmen. Damit kann, z. B. bei einem Scan in K_z=const. das Beugungsbild wie beim LEED dieselbe Symmetrieklasse haben wie die untersuchte Oberfläche, was die Strukturanalyse erleichtert. Die Verbesserung der Auflösung in einer Richtung um mehr als eine Größenordnung auf 5 um Transferweite wird direkt im Bild sichtbar. Das epitaktische Wachstum und die Ostwald-Reifung auf der Si(111)-Oberfläche dienen als Testsysteme. Diese Messungen werden direkt mit Monte-Carlo-Simulationen zur Diffusion verglichen.