Regensburg 1998 – scientific programme
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O: Oberflächenphysik
O 11: Poster (I)
O 11.97: Poster
Monday, March 23, 1998, 19:30–22:30, Bereich C
Untersuchung der Oberflächentopologie anhand von Weichröntgen-Speckle-Mustern — •Annette Karl1, Stefan Eisebitt1, Ricardo Scherer1, Martin Adamcyk2, Tom Tiedje2 und Wolfgang Eberhardt1 — 1Institut für Festkörperforschung, Forschungszentrum Jülich — 2University of British Columbia, Canada
Untersucht man eine Probe mit herkömmlichen Streumethoden, so erhält man Informationen über das mittlere periodische Gitter (Braggreflex) und die mittlere Abweichung vom periodischen Gitter (diffuse Streuung). Wird die Probe im Gegensatz hierzu mit kohärenter Strahlung beleuchtet, so sind sogenannte Speckle-Muster zu beobachten. Diese entstehen durch die Interferenz der von verschiedenen Probenpunkten gestreuten Wellen, die aufgrund der Oberflächentopologie Phasendifferenzen aufweisen. Diese Interferenzmuster sind spezifisch für die individuelle Oberfläche. Der Bereich der beobachtbaren Rauhigkeitsfrequenzen wird hierbei durch die Streugeometrie und die Wellenlänge des einfallenden Lichtes bestimmt. Bisherige Speckle-Experimente wurden im sichtbaren Wellenlängenbereich oder mit harter Röntgenstrahlung (>1 keV) durchgeführt. Durch die von uns genutzte weiche Röntgenstrahlung erschließt sich nun ein Frequenzbereich >2 µm−1, sowohl für die diffuse Streuung als auch für die Speckle-Spektroskopie. Der experimentelle Aufbau und erste Ergebnisse der Messungen werden vorgestellt.