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O: Oberflächenphysik

O 17: Hauptvortrag

O 17.1: Hauptvortrag

Dienstag, 24. März 1998, 14:30–15:00, H36

Spektroskopie schwellennaher Elektronen an Festkörperoberflächen — •P. Feulner, P. Averkamp und B. Kassühlke — Physikdepartment E 20, Technische Universität München, 85747 Garching

Schwellenelektronenspektroskopie zur Messung von Ionisationskanten ist in der Gasphasen- und Clusterphysik ein gängiges Verfahren. Mit Elektronenflugzeitdetektion und Anregung durch Synchrotronlicht wurde sie hier auf reine, adsorbat- und kondensatbedeckte Festkörperoberflächen angewandt. Die in den Parametern Anregungs- und Elektronenenergie dichten, polarisationsaufgelösten Datensätze liefern nicht nur präzise Ionisationsenergien von Ein- und Mehrelektronenzuständen, sondern erlauben auch die Untersuchung der in Schwellennähe sehr starken Endzustandseffekte, mit interessanten Unterschieden bei Chemi- und Physisorption, sowie im Valenz- und Rumpfanregungsbereich. Begleitende Messungen von Zerfallselektronen, emittierten Ionen und metastabilen Neutralen geben darüberhinaus Zugang zu neutralen, exzitonischen Anregungen und gestatten damit sehr vielfältige Untersuchungen der adsorptions- und kondensationsbedingten Änderungen elektronischer Eigenschaften.

Gefördert von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (SFB338 C10 und Me266/21-1).