O 21: Methodisches (Experiment und Theorie) (II)
Dienstag, 24. März 1998, 16:15–19:00, H44
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16:15 |
O 21.1 |
Verknüpfung effektiver Energien mit mikroskopischen Parametern während der Sublimation — •S. Schinzer und W. Kinzel
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16:30 |
O 21.2 |
Wellenpaketrechnungen zur laserinduzierten Desorption von oxidischen Oberflächen — •S. Thiel, T. Klüner und H.-J. Freund
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16:45 |
O 21.3 |
Eine neuartige Kombination von RTM und EELS: Abbildung und schwingungsspektroskopische Analyse von Oberflächen
ohne Probentransfer — •C. Klünker, M. Giesen, C. Steimer, K. Hieble und H. Ibach
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17:00 |
O 21.4 |
Phononstreuung bei RHEED: Dynamische Theorie und Experiment — •U. Korte
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17:15 |
O 21.5 |
Röntgenbeugung bei Anregung akustischer Oberflächenwellen — •E. Zolotoyabko, W. Sauer, T. H. Metzger und J. Peisl
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17:30 |
O 21.6 |
Röntgenholographie mit atomarer Auflösung — •B. Adams, D.V. Novikov, T. Hiort, E. Kossel und G. Materlik
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17:45 |
O 21.7 |
Atomarauflösende Röntgenholographie von Cu3Au — •T.C. Hiort, D.V. Novikov, E. Kossel, B. Adams und G. Materlik
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18:00 |
O 21.8 |
Rekonstruktion von Oberflächenstrukturen aus Mikrostrahl-PIXE-Spektren — •E. Berger, W. von der Linden, V. Dose und V. Prozesky
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18:15 |
O 21.9 |
Effizienter Röntgenstrahlungs-Detektor für Auftrittspotential-Spektroskopie — •G. Rangelov, K. Ertl, F. Passek, M. Vonbank, S. Bassen, J. Reinmuth, M. Donath und V. Dose
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18:30 |
O 21.10 |
Einfluß der Oberflächenmorphologie auf die Schichtdickenbestimmung mit XPS — •P. Kappen, K. Reihs, M. Voetz, C. Seidel und H. Fuchs
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18:45 |
O 21.11 |
Bau einer neuen Undulatorbeamline mit abbildendem Photoelektronenspektrometer bei DELTA — •C. Quitmann, K. Dörnemann, L. Duda, T. Dütemeyer, L.S.O. Johansson, B. Reihl, S. Cramm und W. Eberhardt
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