Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 21: Methodisches (Experiment und Theorie) (II)

O 21.9: Vortrag

Dienstag, 24. März 1998, 18:15–18:30, H44

Effizienter Röntgenstrahlungs-Detektor für Auftrittspotential-Spektroskopie — •G. Rangelov, K. Ertl, F. Passek, M. Vonbank, S. Bassen, J. Reinmuth, M. Donath und V. Dose — Max-Planck-Institut für Plasmaphysik, Boltzmannstr. 2, 85748 Garching b. München

Wir stellen einen effizienten Detektor für Auftrittspotential-Spektroskopie (APS) im Nachweiskanal weicher Röntgenstrahlung vor. Die emittierten Photonen werden in einer Alkali-Halogenid-Schicht, aufgedampft auf eine selbsttragende amorphe Kohlenstoff-Folie, in Elektronen umgewandelt. Diese Schichtkombination absorbiert die niederenergetischen Photonen und erhöht damit das Signal-zu-Rausch-Verhältnis (SRV). Eine weitere Verbesserung des SRV wird mit Hilfe eines zusätzlichen Filters erreicht. Die Wahl des Filter- und Konverter-Materials hängt von der Energie der charakteristischen Röntgenstrahlung des zu untersuchenden Materials ab. Die vom Konverter emittierten Elektronen werden mit einer Mikrokanalplatte nachgewiesen. Ein solcher Detektor wurde für APS-Messungen an Diamant erfolgreich eingesetzt mit einem SRV von 150 (bei 5 mC Ladung/Meßpunkt). Kombiniert mit einer Quelle für spinpolarisierte Elektronen eignet sich dieser Detektor für detaillierte APS-Untersuchungen an magnetischen Systemen.