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O: Oberflächenphysik

O 23: Rastersondentechniken

O 23.8: Vortrag

Mittwoch, 25. März 1998, 16:15–16:30, H37

Untersuchung makroskopischer Reibungs- und Verschleissph”anomene mittels AFM — •J. Sch”ofer, T. Schneider, C. Polaczyk, N. ElNatsheh und E. Santner — Bundesanstalt f”ur Materialforschung und -pr”ufung, D - 12200 Berlin

Mit der Entwicklung der Rastersondenmikroskopie hat die Untersuchung von Reibungs- und Verschleissph”anomenen eine neue Qualit”at erhalten, weil nun quantitative Studien der Topographiever”anderung nach makroskopischen Reib- und Verschleissprozessen auf nanoskopischer L”angenskala m”oglich sind. Wir zeigen, dass durch die Kombination eines Rasterkraftmikroskopes mit gebr”auchlichen, auf makroskopischem Massstab arbeitenden Reibungs- und Verschleisspr”ufger”aten eine quasi-simultane Beobachtung der Oberfl”achentopographie und ihrer Ver”anderung nach einzelnen Reibungs- und Verschleissprozessen erzielt wird. Bei ersten Messungen zum Einfluss der Oberfl”achenstrukturierung auf das Verschleissverhalten von Potentiometerlaufbahnen und von Metall-Metall-Kontakten ergab sich, dass die hohe Ortsaufl”osung des AFM ein Studium bereits der geringsten Topographiever”anderungen nach einzelnen Reibzyklen erlaubt. Auf der Basis solcher ab-initio Untersuchungen wird die Erarbeitung verfeinerter Verschleissmodelle angestrebt.