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O: Oberflächenphysik

O 31: Nanostrukturen

O 31.2: Vortrag

Donnerstag, 26. März 1998, 16:30–16:45, H36

Charakterisierung von Metallclustern in elektrochemischer
Umgebung — •Thomas Stifter, Sabine Hild und Othmar Marti — Abteilung für Experimentelle Physik, Universität Ulm, Albert Einstein Allee 11, D-89069 Ulm

Das Rasterkraftmikroskop (SFM) ist ein Werkzeug um Informationen über die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe zu erhalten. Es bietet aber auch die Möglichkeit, die Wechselwirkung zu verändern bzw. zu kontrollieren, um etwa die Abbildung der Probenoberflächen zu beeinflußen oder Eigenschaften einer Probe zu verändern. Eine Möglichkeit dies zu tun, ist das Messen in einer elektrochemischer Umgebung mit potentialkontrollierter Spitze oder Probe. Ein weiterer Vorteil der elektrochemischen Umgebung ist die Möglichkeit elektrochemische Prozesse zu untersuchen und sogar eine Strukturierung der Oberfläche im Nanometerbereich vorzunehmen. Für elektrochemische Prozeße sind rauhe Oberflächen von Interesse. Hier hat man das Problem, daß die Form der Topographie die gemessenen Eigenschaften beieinflußt. Deshalb ist es schwierig wirkliche, z. B. chemisch induzierte Veränderungen, von topografischen Artefakten zu unterscheiden. Um diese Effekte besser zu verstehen, untersuchen wir Metallcluster auf verschiedenen Substraten in einer potentialkontrollierte elektrochemischen Umgebung. Um die induzierten topografischen Effekte besser erkennen zu können, vergleichen wir die SFM-Messungen mit numerischen Berechnungen.