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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.19: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Entwicklung eines hochauflösenden Elektronenspektrometers, dessen Randfeld durch eine geneigte Linse kompensiert ist — •K. Roßnagel¹, S. Harm², J. Wichert¹, J. Brügmann¹, L. Kipp¹ und M. Skibowski¹ — ¹Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Universität Kiel, D–24118 Kiel — ²Entwicklung für Hard- und Software, Kurallee 3, D–24159 Kiel

In 180^o-Kugelsegmentanalysatoren bewirkt das spaltnahe Randfeld eine erhebliche Verschlechterung der Energieauflösung im Vergleich zu einem ideal angenommenen Analysator. In dem von uns entwickelten Spektrometer, das montiert auf einem 2-Achsen-Goniometer in der winkelaufgelösten Photoemission zum Einsatz kommt, wird dieser Randfeldeffekt durch eine geneigte Eintrittslinse erfolgreich kompensiert. Das belegen erste Charakterisierungsmessungen, die im Vergleich zur numerischen Simulation der elektronenoptischen Abbildungseigenschaften präsentiert werden. Außerdem wird die Möglichkeit diskutiert, das Spektrometer mit einem Vielkanaldetektor auszustatten.