Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.43: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Rasterkraftmikroskopie nanokristalliner Materialien vor und nach Bestrahlung mit energiereichen Schwerionen — •Markus Bickel, Andreas Müller und Reinhard Neumann — GSI Darmstadt Abt.: MF Planckstr. 1 D-64291 Darmstadt

Nanokristalline Proben* (u.a. Co, Pd, Ni und SiC) wurden mit Schwerionen (Ekin = 11,4 MeV/Nukleon) am Linearbeschleuniger UNILAC der Gesellschaft für Schwerionenforschung GSI bestrahlt. Bestrahlte und unbestrahlte Oberflächen wurden mit dem Raster- kraftmikroskop im Hinblick auf Ionen-induzierte Material- modifikationen abgebildet. Hierbei lag der Schwerpunkt der Messungen bei möglichen Einflüssen der Ionen auf Korn- grössenverteilung und Oberflächenreibung. Ziel der Untersuchungen ist ein verbessertes Verständnis der Reaktion nanokristalliner Gefüge auf Strahlenschäden beim Durchgang energiereicher Teilchen auch im Hinblick auf die Verwendung unterschiedlicher Ionen.

*) Die Proben wurden uns freundlicherweise von A. Balogh und H. Hahn (Fachbereich Materialwissenschaft der TU Darmstadt) zur Verfügung gestellt.