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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.52: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Magnetresonanzkraftmikroskopie an Nanogrammproben unter variablen Messbedingungen — •D. Pudlatz und H. Fuchs — Physikalisches Institut der Universität Münster,
Wilhelm-Klemm-Str. 10, 48149 Münster

Die chemische Charakterisierung von Substanzen ist mit herkömmlichen Rastersondenmethoden nur qualitativ durch Vergleichsmessungen z.B. über Reibungskontrast durchführbar. Durch den Einsatz der Magnetresonanzkraftmikroskopie ist prinzipiell eine Identifizierung ohne Referenzmessung möglich. Dabei werden die paramagnetischen Eigenschaften (ESR–MRFM) oder der Kernspin (NMR–MRFM) einer Probensubstanz genutzt, um durch Modulation und mit Hilfe eines inhomogenen B–Feldes und eines dazu senkrechten HF-Feldes, im Resonanzfall die Auslenkung eines AFM-Cantilevers zu messen [1]. Es wurde ein neues MRFM aufgebaut, welches die Untersuchung von Proben unter variablen Messbedingungen im Vakuum und an Luft ermöglicht. Spektren verschiedener Proben (z.B. DPPH bis unter 10 ng an Luft!) konnten so detektiert werden [2].

[1] D. Rugar C.S. Yannoni, J.A. Sidles, Nature 360, 563-566 (1992)

[2] D. Pudlatz, H. Fuchs, eingereicht