Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.56: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Verbesserung der Abstandskontrolle eines kombinierten Rasterionenleitungs- und Scherkraftmikroskops — •J. Kamp, B. Anczykowski, W. Göhde und H. Fuchs — Physikalisches Institut, WWU Münster, 48149 Münster

Mit Hilfe eines kombinierten Rasterionenleitungs- und Scherkraftmikroskops (RILM/SKM) ist es möglich, eine in Flüssigkeit befindliche Probe topographisch abzubilden und gleichzeitig einen lokalen Ionenstrom über der Probe zu detektieren [1]. Als Sonde dient eine fein ausgezogene Mikropipette (Innendurchmesser ≤ 50nm), die mit einer Elektrolytlösung befüllt ist. Bei angelegter Spannung zwischen den Ag/AgCl Elektroden innerhalb der Pipette und unter der Probe können Änderungen der Ionenkonzentration aufgrund von Probenbeschaffenheiten, z.B. Poren, gemessen werden. Um zu gewährleisten, daß die zerbrechliche Spitze zerstörungsfrei über die Probe geführt wird, findet die Scherkraftmethode Verwendung. An Stelle der üblichen Anregung der Pipette durch einen externen Funktionsgenerator wurde die Oszillation über einen Rückkopplungskreis realisiert. Mit Hilfe der so verbesserten Abstandskontrolle wurde die Spitze in konstantem Abstand über eine Oberfläche geführt, und gleichzeitig die Probentopographie (SKM) und lokale Ionenströme (RILM) gemessen. Es konnten Porengrößen mit einem Durchmesser von weniger als 50nm nachgewiesen werden. [1] H. Nitz, J. Kamp, H. Fuchs, Probe Microscopy, im Druck.