Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 34: Poster (II)
O 34.61: Poster
Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C
Aufbau eines Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskops für Untersuchungen im UHV — •G. Kann, R. Houbertz und U. Hartmann — Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, D-66041 Saarbrücken
Es wird ein Rastertunnelmikroskop (STM) vorgestellt, das für Messungen bei tiefen Temperaturen im UHV konzipiert wurde. Das Gerät bietet die Möglichkeit eines in situ Spitzen- und Probentausches. Die Annäherung der Spitze an die Probe wird mit Hilfe eines piezoelektrischen Schrittmotors durchgeführt, auf dem der Rasterpiezo montiert ist, der die STM-Spitze trägt. Die Probe befindet sich auf einer Probenplatte, die mittels dreier Röhrchenpiezos in xy-Richtung über ein Gebiet von maximal 5 mm Durchmesser bewegt werden kann. Der Aufbau wird an Hand erster Testmessungen an NbSe2-Proben diskutiert.