Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.63: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Mikromechanisch hergestellte Apertursonden für die Polarisations-Nahfeld-Mikroskopie — •O. Rudow, C. Mihalcea, W. Scholz, S. Werner und E. Oesterschulze — Institut für Technische Physik, Universität Kassel, Heinrich-Plett-Straße 40, D-34132 Kassel

Die auf der Grundlage der Silizium-Mikrostruktur-Technologie hergestellten Cantileversonden mit integrierter Apertur für die kombinierte optische Raster-Nahfeld-Mikroskopie und Raster-Kraft-Mikroskopie sind aufgrund ihrer Polarisationseigenschaften insbesondere für Anwendungen im Bereich der Polarisations- und Fluoreszenz-Nahfeld-Mikroskopie prädestiniert. Es wurden umfangreiche numerische Simulationen auf Basis der Finiten-Integrations-Technik durchgeführt, um u.a. das polarisationsabhängige Transmissionsverhalten der Apertursonden zu beschreiben. Die daraus gewonnen Erkenntnisse konnten im Hinblick auf eine Optimierung der Sonden in den Herstellungsprozeß eingebracht werden. Experimentelle Untersuchungen zur Charakterisierung des polarisationsabhängigen Transmissionsvermögens konnten die Ergebnisse der Simulationen bestätigen.   [1] S. Werner, O. Rudow, C. Mihalcea, E. Oesterschulze, Cantilever Probes with Aperture Tips for Polarization Sensitive Scanning Near-Field Optical Microscopy, accepted for publication in Applied Physics A, 1997. [2] E. Oesterschulze, O. Rudow, C. Mihalcea, W. Scholz, S. Werner, Cantilever Probes for SNOM Applications and Double Aperture Tips, accepted for publ. in Ultramicroscopy, 1997.