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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.66: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Konzept einer Kraftabstandskontrolle für die optische Nahfeldmikroskopie (SNOM) mit der Tetraedersonde — •K. Razavi, A. Naber, U.C. Fischer und H. Fuchs — WWU Münster, Physikalisches Institut, Wilhelm-Klemm-Str. 10, 48149 Münster

Mit der Tetraedersonde wurde eine SNOM-Sonde realisiert, mit der Ortsauflösungen bis 1 nm erreicht wurden [1]. Bisher ist man hierbei jedoch auf eine STM-Abstandsregelung und folglich auf leitende Proben angewiesen.Wir stellen hier ein Konzept vor, mit dem eine Kraftabstandskontrolle realisiert werden soll. Das Prinzip beruht auf der bei Fasersonden benutzten Scherkraftmikroskopie, wobei hier im Gegensatz zur herkömmlichen Methode jedoch die Kraft probenseitig aufgenommen wird. Die Probe wird auf eine Glasfaser hoher numerischer Apertur aufgebracht und das durch die Tetraedersonde emittierte Licht wird durch die Faser auf einen Detektor geleitet.
Dieses Projekt wird mit den Mitteln des BMBF, Bonn gefördert.

[1] J.Koglin, U.C.Fischer, H. Fuchs, Phys. Rev. B 55, 12, 7977-84 (1997)