Regensburg 1998 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.67: Poster

Thursday, March 26, 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Optisches Raster-Nafeldmikroskop für variable kryogene Temperaturen — •Ch. Lienau, A. Richter und D. Heinrich — Max-Born-Institut für Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie, D-12489 Berlin

Die optische Rasternahfeldmikroskopie bei tiefen Temperaturen (LT-NSOM) bietet vielfältige neue Möglichkeiten zum Studium der physikalischen Eigenschaften einzelner niedrigdimensionaler Halbleiternanostrukturen [1]. Wir beschreiben daher das Design eines neuartigen, vielfältig und relativ einfach einsetzbaren LT-NSOMs zur Spektroskopie von Nanostrukturen bei variablen Temperaturen zwischen 10 und 300 K [2]. Bei diesem Design befinden sich sowohl Probe als auch Rastersondenkopf im Vakuum. Die Probe wird mittels des Kaltfingers eines Helium-Durchflußkryostaten gekühlt, während sich alle Komponenten des Sondenkopfs bei Raumtemperatur befinden. Ein hardware-linearisierter Scantisch mit einen Scanbereich von 0.1 mm x 0.1 mm bewegt die Nahfeldspitze relativ zur Probe und der Abstand zwischen Probe und Spitze wird mittels einer Stimmgabel-Scherkraft-Abstandsregelung kontrolliert. Das Auflösungsvermögen des Gerätes wird anhand von Reflexionsexperimenten an Nanostrukturen auf GaAs-Basis demonstriert.

[1] A. Richter, G. Behme, M. Süptitz, Ch. Lienau, T. Elsaesser, M. Ramsteiner, R. Nötzel, and K. H. Ploog, Phys. Rev. Lett. 79, 2145 (1997).

[2] G. Behme, A. Richter, M. Süptitz, and Ch. Lienau, Rev. Sci. Instrum. 68, 3458 (1997).