Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.71: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Computer Simulationen: Abbildungseigenschaften des Internal Reflection SNOM mit gekreuzt polarisierter Detektion — •G. v. Freymann¹, Th. Schimmel¹, M. Wegener¹, B. Hanewinkel², A. Knorr² und S. W. Koch² — ¹Institut für Angewandte Physik, Universität Karlsruhe (TH), Kaiserstraße 15, D-76128 Karlsruhe — ²Fachbereich Physik und Wissenschaftliches Zentrum für Materialwissenschaften, Philipps-Universität, Renthof 5, D-35032 Marburg

Die Abbildungseigenschaften eines Internal Reflection SNOM mit gekreuzt polarisierter Detektion werden untersucht. Dazu lösen wir die vektoriellen Maxwellgleichungen für das elektrische Feld über einen Greenfunktionsansatz [1]. Wir zeigen, daß für bestimmte Anregungskonfigurationen Subwellenlängenauflösung (≈λ/10) möglich ist. Experimentelle Resultate stützen dieses Ergebnis [2]. Ausführlich untersucht werden der Einfluß verschiedener Spitzengeometrien sowie Wellenlängen- und Polarisationsabhängigkeiten. Unterschiede in der Bildgebung durch Rastern in konstantem Abstand bzw. konstanter Höhe werden diskutiert. Für Detektion in parallel polarisierter Richtung zeigt das Modell in Übereinstimmung mit neueren Experimenten [3] keine Subwellenlängenauflösung.

[1] O. J. F. Martin, A. Dereux und C. Girard, J. Opt. Soc. Am. A 11, 1073 (1994)

[2] J. Hvam et al., persönliche Mitteilung

[3] V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch und J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997)