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20:00 |
O 34.1 |
Untersuchungen mit Photoelektronen (XPS, UPS(HeI und HeII)) und = Metastable Impact Electron=20 Spektroskopie (MIES) an CVD Diamant Filmen — •D. Ochs, S. Dieckhoff, H.G. Busmann und V. Kempter
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20:00 |
O 34.2 |
Untersuchung von Multiply Twinned Gold Mizellen mit XPS, UPS und Metastable Impact Electron Spectroscopy (MIES) — •M. Brause, D. Ochs, W. Maus-Friedrichs, V. Kempter, T. Takami und S. Ino
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20:00 |
O 34.3 |
Atomare und elektronische Struktur von II-VI Halbleiteroberflächen — •D. Vogel, M. Wilpert, P. Krüger und J. Pollmann
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20:00 |
O 34.4 |
Relativistische Full-Potential Photoemission am Beispiel von GaAs — •M. Fluchtmann, S. Bei der Kellen, J. Braun und G. Borstel
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20:00 |
O 34.5 |
Ab-initio studies of the c(4×2) reconstruction of β-SiC(001) — •Wenchang Lu, Peter Krüger, and Johannes Pollmann
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20:00 |
O 34.6 |
Räumliche Herkunft ultravioletter Photoelektronen — •C. Solterbeck, S. Brodersen, E.E. Krasovskii, W. Schattke, L. Kipp, M. Skibowski, M.A. Van Hove und C.S. Fadley
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20:00 |
O 34.7 |
Wellenfunktionen von Elektronenstreuzuständen niedriger Energie — •O. Tiedje, F. Starrost, C. Solterbeck und W. Schattke
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20:00 |
O 34.8 |
Ab-initio Berechnung elektronischer und struktureller Eigenschaften von WSe2: Volumenkristall und (0001)-Oberfläche. — •D. Voß, P. Krüger, A. Mazur und J. Pollmann
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20:00 |
O 34.9 |
k→−AUFGELÖSTE INVERSE PHOTOEMISSIONSMESSUNGEN AN 6H-SiC(0001) OBERFLÄCHEN — •C. Benesch, M. Fartmann und H. Merz
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20:00 |
O 34.10 |
Elektronische Struktur unbesetzter Zust"ande im korrelierten Isolator MnO(100) — •Ch. Henig, J. Steinhoff, and H. Merz
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20:00 |
O 34.11 |
Detailanalyse von Photoemissionsspektren der GaN(001)- und der GaAs:GaN Oberfläche — •T. Strasser, E. Rodriguez, F. Starrost, C. Solterbeck und W. Schattke
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20:00 |
O 34.12 |
Strukturelle und elektronische Eigenschaften von Gruppe-III Nitriden und ihren kubischen (110)-Oberflächen — •G. Hirsch, D. Vogel, P. Krüger und J. Pollmann
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20:00 |
O 34.13 |
Quanten-Monte-Carlo-Rechnungen zur GaAs (110)-Oberfl"ache — •R. Bahnsen, H. Eckstein, W. Schattke, M. Reigrotzki, and R. Redmer
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20:00 |
O 34.14 |
Angle-resolved Photoemission study of the HgTe(110) surface — •N. Orlowski, J. Augustin, Z. Gołacki, C. Janowitz, A. M"uller, and R. Manzke
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20:00 |
O 34.15 |
Photoelektronenspektren von dünnen Legierungsfilmen: relativistische Rechnungen für das System MnCu auf Cu(100) — •Birgit Willerding, Klaus Wandelt und Jürgen Braun
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20:00 |
O 34.16 |
Einflu"s der Kalium-Adsorption auf kollektive elektronische Anregungen auf der Ag(110) Oberfl"ache — •F. Moresco, T. Hildebrandt, M. Rocca, and M. Henzler
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20:00 |
O 34.17 |
Oberflächenphotospannung an rekonstruierten 6H-SiC(0001)-Oberflächen — •R. Meyer und H. Merz
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20:00 |
O 34.18 |
Valence band structure of α-MoTe2 determined by ARPES in the CFS mode — •Th. B"oker, A. M"uller, J. Augustin, C. Ribbat, C. Janowitz, and R. Manzke
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20:00 |
O 34.19 |
Entwicklung eines hochauflösenden Elektronenspektrometers, dessen Randfeld durch eine geneigte Linse kompensiert ist — •K. Roßnagel, S. Harm, J. Wichert, J. Brügmann, L. Kipp und M. Skibowski
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20:00 |
O 34.20 |
In situ Bestimmung der elektronischen Struktur von epitaktischen C60-Filmen mittels kombinierter Photoemission, inverser Photoemission und R=94ntgenabsorptionsspektroskopie — •S. Woedtke, R. Schwedhelm, A. Dallmeyer, L. Kipp, and M. Skibowski
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20:00 |
O 34.21 |
Wasser und Fehlstellen auf NaCl/KCl Oberflächen — •Hendrik Meyer, P. Entel und J. Hafner
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20:00 |
O 34.22 |
Quantum Size-Effekte in der Photoemission von d"unnen Alkalimetallschichten auf Al(111) im Bereich der Plasmon-Anregung — •K. Horn, S.R. Barman, and P. H"aberle
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20:00 |
O 34.23 |
Interpretation des Photoyields von Al(111) im Rahmen von kollektiven Anregungen und klassischer Fresnel-Theorie — •K. Horn and S.R. Barman
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20:00 |
O 34.24 |
New Experimental Technique: X-Ray Absorption Spectroscopy for in situ Studies in the Soft X-Ray Range (250 eV ≤ hν ≤ 1000 eV) under Reaction Conditions — •A. Knop-Gericke, M. Hävecker, and Th. Schedel–Niedrig
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20:00 |
O 34.25 |
Oberflächenverbindungen zweiwertiger Seltenerdmetalle mit Pd — •Sönke Wieling, Serguei Molodtsov, Thomas Gantz, Manuel Richter und Clemens Laubschat
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20:00 |
O 34.26 |
Kohärente Anregung von Bildpotentialzuständen: Quantenbeat-Spektroskopie und Elektronwellenpakete an Metalloberflächen — •U. Höfer, I. L. Shumay, Ch. Reuß, U. Thomann, W. Wallauer und Th. Fauster
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20:00 |
O 34.27 |
Zeitabhängige Responsefunktionen bei SHG und SFG von Si-Oberflächen — •M. Stamova und F. Rebentrost
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20:00 |
O 34.28 |
SHG von idealen und rekonstruierten Siliziumoberflächen — •R. Ernstorfer und F. Rebentrost
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20:00 |
O 34.29 |
Nachweis korrelierter Elektronenpaare in der Photoemission aus Festkörpern — •R. Herrmann, S.N. Samarin, H. Schwabe, and J. Kirschner
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20:00 |
O 34.30 |
Lebensdauern elektronischer Oberflächenzustände in physisorbierten Adsorbatsystemen — •G. Moos, A. Hotzel, K. Ishioka, E. Knoesel, M. Wolf und G. Ertl
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20:00 |
O 34.31 |
Pulsed Force Kraftmikroskopie an chemischen Oberflächenmustern ultradünner Polystyrol-b- Polyvinylpyridin Filmen — •K. Weishaupt, J.P. Spatz, M. Möller, P. Eibeck, J.A. Koenen und O. Marti
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20:00 |
O 34.32 |
Einflu"s von Gas-Adsorbaten auf das Diffusionsverhalten einzelner Pt-Atome auf Pt(110) — •S. Horch, T.R. Linderoth, E. Lægsgaard, I. Stensgaard, and F. Besenbacher
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20:00 |
O 34.33 |
”Giant Atomic Corrugations” im Rasterkraftmikroskop auf einer Metalloberfläche im UHV — •S. Molitor, P. Guethner und Th. Schimmel
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20:00 |
O 34.34 |
Rasterkraftmikroskopie an Ionen-induzierten Veränderungen in Lithiumfluorid-Kristallen — •Andreas Müller, Markus Bickel, Reinhard Neumann, Kurt Schwartz und Christina Trautmann
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20:00 |
O 34.35 |
Feldunterstützte Multiphotonen-Photoemission bei Rastertunnelmikroskopie an Halbleiter-Oberflächen mit Femtosekunden-Laseranregung — •A. Thon, V. Gerstner, A. Knoll, J. Lehmann, M. Merschdorf, W. Pfeiffer und G. Gerber
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20:00 |
O 34.36 |
Thermisch induzierte Entwicklung der Struktur von Au-Clustersystemen — •Andrea Berlinger und Peter von Blanckenhagen
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20:00 |
O 34.37 |
Kombinierte RTM/SIMS Untersuchungen zur Modifizierung monomolekularer Schichtsysteme — •E. Göcke, C. Seidel und H. Fuchs
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20:00 |
O 34.38 |
Vertikale Manipulation von CO auf Cu(111) mit dem Tieftemperatur-STM — •L. Bartels, G. Meyer und K.-H. Rieder
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20:00 |
O 34.39 |
ARXPS– and SFM–Studies of galvanic and sputter deposition of metals on TiO2 and on plastics — •P. Henzi, M. Regier, K. Bade, G. Schanz, and J. Halbritter
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20:00 |
O 34.40 |
Korrelative Untersuchungen zur Strukturaufklärung von Basalmembranen mittels Rastersondenverfahren — •S. Lukas, A. Drechsler, A. Müller, P. Mestres und U. Hartmann
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20:00 |
O 34.41 |
AFM/LFM-Untersuchungen zum mikrotribologischen Verhalten von Au(001) — •C. Polaczyk, T. Schneider, J. Sch'ofer und E. Santner
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20:00 |
O 34.42 |
Mikrotribologie mittels LFM — •T. Schneider, C. Polaczyk, J. Sch”ofer und E. Santner
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20:00 |
O 34.43 |
Rasterkraftmikroskopie nanokristalliner Materialien vor und nach Bestrahlung mit energiereichen Schwerionen — •Markus Bickel, Andreas Müller und Reinhard Neumann
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20:00 |
O 34.44 |
Chemische Abbildung mittels AFM — •U. Neuwald, M. Winkelmann, A. Marti, G. Hähner, M. Textor und N.D. Spencer
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20:00 |
O 34.45 |
Elektroneninduzierte thermoakustische Wellen auf RKM - Cantilevern im kombinierten Rasterelektronen-Rasterkraft Mikroskop und deren Anwendung. — •A. Vaut, G. Becker und H. Fuchs
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20:00 |
O 34.46 |
Untersuchung eines neuartigen Röhrchenscanners zur Kompensation der sphärischen Verkippung in der Rastersensormikroskopie — •M. Hannß, W. Naumann und R. Anton
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20:00 |
O 34.47 |
Untersuchungen zur Abstandsregelung in der Rastersondenmikroskopie unter Verwendung der Meßsonde als frequenzbestimmendes Element eines rückgekoppelten Oszillatorkreises — •B. Anczykowski, J. Kamp, W. Göhde, B. Gotsmann, L.F. Chi, D. Krüger, M. Neitzert und H. Fuchs
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20:00 |
O 34.48 |
Thermische Effekte bei Femtosekunden-Laserunterstützter Rastertunnelmikrosopie — •V. Gerstner, A. Knoll, J. Lehmann, M. Merschdorf, W. Pfeiffer, A. Thon und G. Gerber
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20:00 |
O 34.49 |
Aufbau eines UHV-Clusters zur Präparation und Analyse von Oberflächen: Erste Experimente zum Wachstum von Wolframtrioxid-Filmen — •Reiner Notz, Markus Hackenberg, Hans Bialas, Berndt Koslowski und Paul Ziemann
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20:00 |
O 34.50 |
Zeitaufgelöste Messungen der Reaktion einer STM-Spitze auf Bestrahlung mit einem ns-Laserpuls — •J. Boneberg, M. Tresp, M. Ochmann, H.-J. Münzer und P. Leiderer
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20:00 |
O 34.51 |
Bestimmung elastischer Eigenschaften einzelner Aerogel Partikel mit dem AFM — •Robert W. Stark, Tanja Drobek, Marcus Weth, Jochen Fricke und Wolfgang M. Heckl
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20:00 |
O 34.52 |
Magnetresonanzkraftmikroskopie an Nanogrammproben unter variablen Messbedingungen — •D. Pudlatz und H. Fuchs
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20:00 |
O 34.53 |
Aufbau eines temperaturvariablen UHV-RTM-Systems (6-300K) — •Sven Zöphel, Kai Schaeffer, Gerhard Meyer und Karl-Heinz Rieder
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20:00 |
O 34.54 |
Wärmeübertragung im UHV: Experimente mit einem Rastertunnelmikroskop — •Wolfgang Müller-Hirsch, Arne Kraft, Jürgen Parisi und Achim Kittel
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20:00 |
O 34.55 |
Analyse nichtlinearer Effekte in der Modulations-Reibungsmikroskopie — •Achim Spychalski, Karsten Krischker, Thomas Göddenhenrich und Christoph Heiden
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20:00 |
O 34.56 |
Verbesserung der Abstandskontrolle eines kombinierten Rasterionenleitungs- und Scherkraftmikroskops — •J. Kamp, B. Anczykowski, W. Göhde und H. Fuchs
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20:00 |
O 34.57 |
Cantileversonden mit in der Spitze integrierter Schottkydiode für die kombinierte SThM/SFM — •T. Leinhos, M. Müller-Wiegand, M. Stopka und E. Oesterschulze
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20:00 |
O 34.58 |
Herstellung von elektrisch leitfähigen AFM-Cantilevern auf Diamant-Basis — •A. Malave, D. Albert, W. Kulisch, C. Mihalcea und E. Oesterschulze
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20:00 |
O 34.59 |
Analyse des Abbildungsprozesses in der Kontaktkraftmikroskopie auf atomarer Skala — •U. D. Schwarz, H. Hölscher, W. Raberg, A. Hasbach, R. Wiesendanger, and K. Wandelt
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20:00 |
O 34.60 |
Rasterwirbelstrommikroskopie im Ultrahochvakuum — •P. Leinenbach, U. Memmert und U. Hartmann
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20:00 |
O 34.61 |
Aufbau eines Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskops für Untersuchungen im UHV — •G. Kann, R. Houbertz und U. Hartmann
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20:00 |
O 34.62 |
Numerische Untersuchungen zu nahfeldoptischen Sonden — •C. Serwatzy, R. Lamche, W. Noell, O. Hollricher, and O. Marti
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20:00 |
O 34.63 |
Mikromechanisch hergestellte Apertursonden für die Polarisations-Nahfeld-Mikroskopie — •O. Rudow, C. Mihalcea, W. Scholz, S. Werner und E. Oesterschulze
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20:00 |
O 34.64 |
Nahfeldoptik als Untersuchungsmethode f=81r Polymere — •A. Simon, T. Held, W. Ibach, O. Hollricher und O. Marti
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20:00 |
O 34.65 |
Elektromagnetische Felder im Cutoff-Regime konischer Wellenleiter — •Bernhard Knoll
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20:00 |
O 34.66 |
Konzept einer Kraftabstandskontrolle für die optische Nahfeldmikroskopie (SNOM) mit der Tetraedersonde — •K. Razavi, A. Naber, U.C. Fischer und H. Fuchs
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20:00 |
O 34.67 |
Optisches Raster-Nafeldmikroskop für variable kryogene Temperaturen — •Ch. Lienau, A. Richter und D. Heinrich
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20:00 |
O 34.68 |
Ein optisches Nahfeldmikroskop mit der Tetraedersonde in einer Reflexionsanordnung — •J"org Ferber, U. Fischer, and H. Fuchs
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20:00 |
O 34.69 |
IR-Kontrast in der optischen Nahfeldmikroskopie — •Bernhard Knoll, Fritz Keilmann und Reinhard Guckenberger
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20:00 |
O 34.70 |
Numerische Untersuchungen zur optische Nahfeldmikroskopie: Welchen Einfluß hat die Wellenlänge auf die Auflösung und den Kontrast? — •E. Paule und P. Reineker
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20:00 |
O 34.71 |
Computer Simulationen: Abbildungseigenschaften des Internal Reflection SNOM mit gekreuzt polarisierter Detektion — •G. v. Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knorr und S. W. Koch
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20:00 |
O 34.72 |
SNOM mit Normalkraftdetektion und geätzten, gebogenen Spitzen — •J. Francis Wolf, Paul E. Hillner, Roger Bilewicz, Patrick Kölsch und Jürgen P. Rabe
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20:00 |
O 34.73 |
Nukleation und anfängliches Wachstum von Ag auf Polymeren und HOPG — •K. Behnke, V. Zaporojtchenko, A. Thran, T. Strunskus und F. Faupel
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20:00 |
O 34.74 |
Lichtemission durch Elektronenbeschuß von Palladium Teilchen auf Aluminiumoxid — •M. Adelt, S. Nepijko, W. Drachsel und H.-J. Freund
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20:00 |
O 34.75 |
Charakterisierung einer atomaren Wasserstoffquelle — •CHRISTIAN EIBL, GERALD LACKNER und ADOLF WINKLER
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20:00 |
O 34.76 |
Neues SPA-LEED Design mit maximaler Probenzugänglichkeit — •P. Zahl, F. Homann und M. Horn-von Hoegen
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20:00 |
O 34.77 |
Röntgenholographie bei mehreren Energien - Messungen und Simulationen an Cu3Au — •E. Kossel, D.V. Novikov, T.C. Hiort, B. Adams und G. Materlik
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20:00 |
O 34.78 |
Bestimmung der lokalen Symmetrie und Ordnung von Oberflächen durch Second-harmonic Mikroskopie — •M. Flörsheimer, Ch. Brillert, M. Wierschem und H. Fuchs
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20:00 |
O 34.79 |
Ein Photoelektronenspektrometer für höchste Energie- und Winkelauflösung — •T. Plake, C. Janowitz und R. Manzke
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20:00 |
O 34.80 |
Einfluß von Defekten an Oberflächen und dünnen Filmen auf die streifende Streuung von schnellen Ionen — •R. Pfandzelter, T. Igel und H. Winter
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20:00 |
O 34.81 |
Winkelaufstreuung bei der streifenden Streuung von schnellen He-Atomen an einer Al(111)-Oberfläche — •T. Hecht, R. Pfandzelter und H. Winter
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20:00 |
O 34.82 |
Wechselwirkung von metastabilem He 23S mit Oberflächen:
Flugzeitaufgelöste Messungen — •P. Fouquet, J.P. Toennies und G. Witte
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20:00 |
O 34.83 |
Resonante kohärente Anregung von Wasserstoffatomen bei der streifenden Streuung an einer LiF(001)-Oberfläche — •C. Auth, A. Mertens, H. Winter, A.G. Borisov und F.J. Garcia de Abajo
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20:00 |
O 34.84 |
Analytische Modelle f"ur die Voraussage der Tiefeninformation in Total Electron-Yield XAS Signalen: ein Vergleich verschiedener Methoden — •Sven L.M. Schroeder
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20:00 |
O 34.85 |
Raster –Sonden– Mikroskopie zur quantitativen Analyse elektronischer Eigenschaften — •J. Zimmermann, M. Böhmisch, P. Bruker, A. Rettenberger, J. Boneberg und P. Leiderer
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20:00 |
O 34.86 |
Nano-scale material deposition using STM — •Xiaoming Hu and Peter von Blanckenhagen
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20:00 |
O 34.87 |
Erzeugung und Charakterisierung künstlicher Nanostrukturen in SAM mittels Rastersondenmikroskopietechniken — •J. Hartwich, M. Sundermann, U. Kleineberg und U. Heinzmann
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20:00 |
O 34.88 |
Nanostrukturierung von ultra-dünnen Ag-Schichten auf Si — •M. Riehl-Chudoba, V.A. Gasparov und Wo. Richter
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20:00 |
O 34.89 |
Atomlithographie mit Alkalimetallen — •Alexander Grossmann und Theodor W. Hänsch
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20:00 |
O 34.90 |
Lateralstrukturierung von Mo/Si–Multischichtsystemen mittels reaktivem Ionenätzen (RIE) — •L. Dreeskornfeld, Z. Le, S. Rahn, R. Segler, U. Kleineberg und U. Heinzmann
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20:00 |
O 34.91 |
Herstellung und Charakterisierung dünner metallischer Leiterbahnen mit Konataminationslithographie — •Johannes Kretz, Hubert Brückl, Ingolf Mönch und Günter Reiss
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20:00 |
O 34.92 |
Der Einfluß von Sekundärelektronen in der Nahsondenlithographie — •B. Völkel, H.U. Müller, A. Eisele, C. David, A. Gölzhäuser und M. Grunze
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20:00 |
O 34.93 |
Cluster-Bildung von Na-Atomen auf SAM/Gold-Oberflächen — •Frank Balzer und Horst-Günter Rubahn
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20:00 |
O 34.94 |
Wachstum niederdimensionaler Strukturen aus Seltenerdsiliziden auf Silizium — •C. Preinesberger, S. Vandre, T. Kalka und M. Dähne-Prietsch
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20:00 |
O 34.95 |
Physisorbierte Edelgasmasken zur Strukturierung von Adsorbatschichten — •G. A. Reider, P. A. Williams, Leping Li, T. Suzuki, U. Höfer und T. F. Heinz
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20:00 |
O 34.96 |
STM-induzierte H-Desorption zur Herstellung von nm-Strukturen auf nasschemisch präparierten H/Si(111)1x1-Oberflächen — •L. Placke, M. Gruyters, R. Berndt und G. Güntherodt
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20:00 |
O 34.97 |
Adsorptionsinduzierte Strukturierung und Facettierung:
Te/Pd(201) — •G. Klos und H. Pfnür
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20:00 |
O 34.98 |
Wachstum von Xenon-Filmen auf der Cu-O-Streifenphase — •V. B. Diercks, R. Halmer, P. Zeppenfeld, R. David und G. Comsa
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20:00 |
O 34.99 |
The Surface Geometry of α-Fe2O3 (Hematite) (0001) — •Xiao-Gang Wang, Matthias Scheffler, Max Petersen, and Frank Wagner
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20:00 |
O 34.100 |
Observation of nano-dewetting structures — •P. M"uller-Buschbaum, J.S. Gutmann, C. Lorenz, and M. Stamm
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20:00 |
O 34.101 |
Quantisierungsphänomene in transienten Quecksilbernanodrähten — •Nikolaus Nestle und Gert Denninger
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20:00 |
O 34.102 |
Kolloidale Masken: Alternatives Lithographieverfahren ohne Beugungsbeschränkung — •F. Burmeister, C. Schäfle, W. Badowsky, J. Boneberg und P. Leiderer
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20:00 |
O 34.103 |
Volmer-Weber-Wachstum von Metallen auf Schichtgitter-Kristallen. Ein Ansatz zur Erzeugung selbstorganisierter Nanostrukturen — •P. Bruker, A. Rettenberger, M. Böhmisch, J. Zimmermann, F. Mugele, J. Boneberg und P. Leiderer
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20:00 |
O 34.104 |
Herstellung und Untersuchung von Nanodrähten auf der Basis strukturierter Glimmersubstrate — •S. Höppener, L.F. Chi, S. Gao und H. Fuchs
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