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O: Oberflächenphysik

O 4: Oxide und Isolatoren / Phasenüberg
änge

O 4.6: Vortrag

Montag, 23. März 1998, 12:30–12:45, H37

Neue Methode zur Oberflächenstrukturbestimmung von Isolatoren: ASS an KBr — •Andreas Losch und Horst Niehus — Institut für Physik, Humboldt-Universität, Invalidenstr. 110, 10115 Berlin

Bei ASS (Atom Scattering Spectroscopy) wird ein gepulster Atomstrahl (He oder Ne, 3 keV) an der Probe unter variablem Einfalls und Azimutalwinkel gestreut. Durch die Verwendung eines neutralen Atomstrahls ist dabei, im Gegensatz zu ISS (Ion Scattering Spectroscopy), eine Beeinflussung der Bahntrajektorie der Projektile durch die Aufladung einer hochisolierenden Probe (Sekundärelektronenemission) ausgeschlossen. Im Rückstreumodus (θ = 177^∘) werden nur die gestreuten Projektile, in Vorwärtsrichtung (θ =49^∘) dagegen sowohl die gestreuten Projektile als auch die aus der Probe herausgeschlagenen Atome im Flugzeitspektrum registriert. Eine winkelabhängige Analyse der Energie sowie der Zählrate der detektierten Teilchen erlaubt eine elementspezifische Positionsbestimmung der Oberflächenatomkerne. Die Vorteile von ASS werden besonders an KBr deutlich: Bei hohen Temperaturen (200^∘C) ist aufgrund der erhöhten Ionenleitfähigkeit sowohl eine ASS- als auch eine ISS-Analyse, bei RT dagegen allein eine ASS-Analyse möglich. Die Auswertung der an KBr gewonnenen ASS-Spektren zeigt eine starke Relaxation der ersten Atomlage.