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O: Oberflächenphysik

O 5: Methodisches (Experiment und Theorie)

O 5.7: Vortrag

Montag, 23. März 1998, 12:45–13:00, H44

Tiefeninformation in Total Electron-Yield XAFS Spektren: Modellrechnungen zur Signalbildung mit Monte-Carlo Simulationen von Elektronentrajektorien — •Sven L.M. Schroeder — Institut für Physikalische und Theoretische Chemie, FU Berlin, Takustr. 3, 14195 Berlin

Die Signalbildung bei Total Electron-Yield (TEY) XAFS-Messungen an Röntgenabsorptionkanten im Energiebereich oberhalb von 1 keV wurde mit einem einfachen Monte-Carlo Algorithmus für die Simulation von Auger-Elektronentrajektorien untersucht. Der Vergleich zwischen rechnerisch erhaltenen Ergebnissen und Literaturdaten für die TEY-Signalabschwächung in einer Reihe von Materialien deutet darauf hin, daß die alleinige Analyse des TEY-Beitrags inelastisch gestreuter Auger-Elektronen die Tiefeninformation in TEY XAFS-Spektren in guter Näherung voraussagt. Das Monte-Carlo Modell ermöglicht darüberhinaus eine Untersuchung des Zusammenhangs zwischen dem TEY- und dem Röntgenabsorptionsspektrum und somit die Identifizierung von Nichtlinearitäten in deren Beziehung. Möglichkeiten zur Verbesserung des für die vorliegende Arbeit benutzten Monte-Carlo Simulationsmodells werden kurz diskutiert werden.