Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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SYC: Symposium Raster-Sonden-Mikroskopie und -Spektroskopie bei tiefen Temperaturen

SYC 4: Kurzvorträge II

SYC 4.2: Vortrag

Dienstag, 24. März 1998, 16:00–16:15, H18

Lokale Zustandsdichte an Grenzflächen zwischen Supraleitern — •W. Belzig und C. Bruder — Institut für Theoretische Festkörperphysik, Universität Karlsruhe, 76128 Karlsruhe

STM-Spektroskopie mißt die lokale Zustandsdichte (LDOS). Diese kann insbesondere in der Nähe von Grenzflächen einen Einblick in die physikalischen Verhältnisse geben. Als typische Anwendung betrachten wir ein normalleitendes Metall in Kontakt mit einem Supraleiter. Durch den Proximity-Effekt werden supraleitende Korrelationen in dem normalen Metall induziert. Wir berechnen die LDOS in diesem System und zeigen einen Vergleich mit Messungen der LDOS mit Hilfe von Tunnelkontakten[1]. Ein weiteres interessantes System sind Zwillingsgrenzen in Hochtemperatursupraleitern. An diesen Grenzen existieren gebundene Andreev-Zustände, die zu einem zero-bias Maximum in der LDOS führen. Die bei tiefen Temperaturen auftretenden spontanen Ströme entlang der Grenze äußern sich in einer Aufspaltung des zero-bias Peaks in der LDOS und können möglicherweise durch Magnetkraft-Mikroskopie nachgewiesen werden.

[1] S. Guéron et al. , Phys. Rev. Lett. 77, 3025 (1996); W. Belzig, C. Bruder, and G. Schön, Phys. Rev. B 54, 9443 (1996).