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SYC: Symposium Raster-Sonden-Mikroskopie und -Spektroskopie bei tiefen Temperaturen

SYC 5: Poster

SYC 5.4: Poster

Dienstag, 24. März 1998, 17:00–19:00, A

Die Fluoreszenz eines einzelnen Atoms vor einer strukturierten Oberfläche — •Carsten Henkel¹, Martin Wilkens¹ und Vahid Sandoghdar² — ¹Institut für Physik, Universität Potsdam, Am Neuen Palais 10, 14469 Potsdam — ²Fakultät für Physik, Universität Konstanz, 78457 Konstanz

Wir berechnen die radiativen Eigenschaften (Linienbreite und -verschiebung) eines Atoms oder Moleküls, das sich oberhalb einer strukturierten Oberfläche befindet. Das Problem ist von Interesse für die Nahfeldoptik, denn befindet sich das Atom auf einer Rastermikroskopspitze, kann man über sein Fluoreszenzspektrum neuartige Informationen über die lokalen optischen Eigenschaften der Oberfläche erhalten. Wir untersuchen, mit welcher lateralen und vertikalen Auflösung auf diese Weise Strukturen der Oberfläche abgebildet werden können. Insbesondere studieren wir den Übergang vom Nahfeld ins Fernfeld, wo die elektrostatische Näherung nicht mehr gültig ist. Für die Rechnung wird das elektromagnetische Feld nach Moden entwickelt, die den Randbedingungen an der Oberfläche genügen. Ein konkretes Modellsystem ist ein Gitter mit Rechteckprofil, dessen Feldmoden analytisch bekannt sind.