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SYC: Symposium Raster-Sonden-Mikroskopie und -Spektroskopie bei tiefen Temperaturen

	Di, 09:30–11:30	H18	SYC 1: Metallische Systeme
	Di, 11:45–12:45	H18	SYC 2: Kurzvorträge I
	Di, 14:00–15:30	H18	SYC 3: Halbleiter und Hochtemperatursupraleiter
	Di, 15:45–17:00	H18	SYC 4: Kurzvorträge II
	Di, 17:00–19:00	A	SYC 5: Poster