Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 15: Postersitzung II: Massive HTSL (1-12), Supraleitung: Anwendungen (13-34), Josephsonkontakte und Kryoelektronik (35-75), Elektronenstruktur und Phononen in HTSL (76-79), Schwere Fermionen, Kondo-Systeme (80-99)

TT 15.22: Poster

Mittwoch, 25. März 1998, 15:00–18:30, D

Abbildung von Abrikosov Vortices in supraleitenden Tunnelkontakten mit der Tieftemperatur-Rasterelektronenmikroskopie — •J. Martin¹, J. B. le Grand², F. Panteleit¹, T. Schroeder¹ und R. P. Huebener¹ — ¹Physikalisches Institut, Lehrstuhl für Experimentalphysik II, Uni Tübingen — ²Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore CA 94550, USA

Mit Hilfe der Tieftemperatur-Rasterelektronenmikroskopie (TTREM) wurden ortsaufgelöste Messungen an supraleitenden Tunnelkontakten (STJ’s) durchgeführt. Die durch die Elektronenbestrahlung verursachten Spannungsänderungen liegen im µ V-Bereich und lassen sich mit einer Ortsauflösung von 200 nm darstellen. TTREM-Bilder von STJ’s, die mit einer SiO₂-Schicht bedeckt waren, zeigten regelmäßige Anordnungen von lokalen, punktförmigen Signalerhöhungen im Bereich von 5 − 10 %. Die Größe dieser Punkte ist etwa 1 µ m. Die Messungen zeigen, daß es auf ganz neue Weise gelungen ist, einzelne Abrikosov Vortices (AV’s) abzubilden. Die SiO₂ Abdeckung scheint hierbei im Sinne einer Vergütungsschicht die Abbildung von AV’s erst zu ermöglichen. Ein Szenario für die Signalentstehung wird diskutiert.