Regensburg 1998 – scientific programme

Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help

TT: Tiefe Temperaturen

TT 15: Postersitzung II: Massive HTSL (1-12), Supraleitung: Anwendungen (13-34), Josephsonkontakte und Kryoelektronik (35-75), Elektronenstruktur und Phononen in HTSL (76-79), Schwere Fermionen, Kondo-Systeme (80-99)

TT 15.32: Poster

Wednesday, March 25, 1998, 15:00–18:30, D

Hochauflösende E(I)-Messungen an technischen NbTi-Supraleitern — •R. Kimmich und Th. Schneider — Institut für Technische Physik, Forschungszentrum Karlsruhe, Postfach 3640, 76021 Karlsruhe

Für supraleitende Magnete im Kurzschlußbetrieb ist die zeitliche Stabilität von besonderer Bedeutung. Diese wird u. a. vom resistiven Verhalten der eingesetzten technischen Supraleiter bestimmt. Das bisher verwendete (resistive) Meßverfahren gestattet Auflösungen von E ≈ 10⁻⁸ bis 10⁻⁹ V/cm. Will man die zeitliche Stabilität weiter erhöhen, sollte das resistive Verhalten für kleinere E-Felder bekannt sein. Daher muß die Auflösung des Meßverfahrens verbessert oder auf kleinere E-Felder extrapoliert werden. Durch geeignete Optimierungen der Meßwerterfassung konnte die Auflösungsgrenze um bis zu zwei Größenordnungen auf E ≈ 10⁻¹⁰ V/cm gesteigert werden. Weiterhin wurde ein theoretisches Modell untersucht, welches das E(I)-Verhalten der technischen Supraleiter anhand einer statistischen Verteilung der lokalen kritischen Ströme beschreibt. Durch die Zusammenführung von hochaufgelösten E(I)-Messungen mit den o. a. Modellvorstellungen sollte eine sichere Basis für die Berechnung des resistiven Verhaltens gefunden werden. Allerdings zeigten sich bei der Analyse der Messungen Schwierigkeiten, die freien Parameter des Modells zu bestimmen. Die hierbei gewonnenen Erkenntnisse führen zu dem Schluß, daß für die sichere Bestimmung der Parameter zusätzlich der Strombereich I ≫ I_c ausgemessen werden muß.