Regensburg 1998 – scientific programme

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 15: Postersitzung II: Massive HTSL (1-12), Supraleitung: Anwendungen (13-34), Josephsonkontakte und Kryoelektronik (35-75), Elektronenstruktur und Phononen in HTSL (76-79), Schwere Fermionen, Kondo-Systeme (80-99)

TT 15.48: Poster

Wednesday, March 25, 1998, 15:00–18:30, D

Charakterisierung von Rauschzentren in Josephson-Kontakten aus Hochtemperatur-Supraleitern — •A. Marx¹, T. Kemen¹, D. Kölle¹, R. Dittmann² und R. Gross¹ — ¹II. Physikalisches Institut, Lehrstuhl für Angewandte Physik, Zülpicher Straße 77, 50937 Köln — ²Institut für Schicht- und Ionentechnik, FZ Jülich, 52425 Jülich

Josephson-Kontakte auf der Basis von Hochtemperatur-Supraleitern weisen ein hohes Spannungsrauschen bei niedrigen Frequenzen auf. Die detaillierte Analyse dieses 1/f-Rauschens liefert wichtige Informationen über den Ladungstransportmechanismus in diesen Kontakten und zeigte, daß das Rauschen durch korrelierte Fluktuationen der Kontaktparameter kritischer Strom und Normalwiderstand verursacht wird [1]. Diese Fluktuationen werden durch stochastische Schwankungen der Besetzungszahl von Ladungsträger-Traps in einer isolierenden Barriere hervorgerufen. Aus der Untersuchung der Magnetfeldabhängigkeit der normierten Fluktuationen können Aussagen über räumliche Korrelationen zwischen den Traps gemacht werden. In unseren Experimenten ergaben sich keine Hinweise auf derartige Korrelationen, wobei die räumliche Auflösung durch das maximal angelegte Magnetfeld definiert wird. Zur Aufklärung der Natur der elementaren Rauschquellen wurde die Spannungs- und Temperaturabhängigkeit einzelner Traps untersucht. Dabei ergaben sich erste Indizien für einen Übergang von einem thermisch aktivierten Verhalten zu tunnelartigem Verhalten der Traps bei tiefen Temperaturen.

[1] A. Marx et al., IEEE Trans. Appl. Supercond. 7, 2719 (1997)