Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm
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TT: Tiefe Temperaturen
TT 16: Anwendungen der HTSL: Hochfrequenz und Elektronik
TT 16.6: Vortrag
Donnerstag, 26. März 1998, 11:45–12:00, H 20
Langzeitstabile kryogene Mikrowellenoszillatoren mit niedrigem Phasenrauschen — •I. S. Ghosh1, D. Schemion1, N. Klein1, L. Hao2, W. J. Radcliffe2 und J. C. Gallop2 — 1Institut für Festkörperforschung, Forschungszentrum Jülich GmbH, 52425 Jülich — 2Quantum Metrology Division, National Physical Laboratory, Queen’s Road, Teddington, Middlesex TW11 0LW, UK
Mikrowellenoszillatoren bestehen in der einfachsten Konfiguration aus einem Hochfrequenzverstärker, der über einen stabilisierenden Mikrowellenresonator hoher Güte rückgekoppelt wird. Die Kurzzeitstabilität eines solchen Oszillators wird nahe der Trägerfrequenz bestimmt durch das im Verstärker generierte 1/f-Phasenauschen und die Güte des Resonators. Die Langzeitstabilität der Oszillatorfrequenz wird hauptsächlich durch thermische Driften der Resonatorfrequenz des stabilisierenden Hochgüteresonators dominiert. Unter Verwendung eines gekühlten Saphirresonators vom ’whispering gallery’ Typ und eines auf HEM-Transistoren basierenden Mikrowellenverstärkers entwickeln wir zur Zeit einen Mikrowellenoszillator bei 23 GHz und T =3D 77 K mit niedrigem Phasenrauschen. Die Kühlung erfolgt über einen kommerziellen Miniatur-Stirlingkühler. Solche Oszillatoren ermöglichen z.B. die Erhöhung der Datenraten in der digitalen Datenkommunikation. Des weiteren berichten wir über unsere Arbeiten an einem temperaturkompensierten Oszillator, mit dem Langzeitstabilitäten erreicht werden sollen, die es ermöglichen, diesen Oszillator als Sekundärfrequenzstandard zu benutzen.