Regensburg 1998 – scientific programme
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TT: Tiefe Temperaturen
TT 23: Amorphe Systeme und Defekte
TT 23.2: Talk
Friday, March 27, 1998, 10:30–10:45, H 6
Wärmeleitfähigkeit in amorphen CuxSn100−x–Schichten — •R. Schmidt, Th. Franke und P. Häussler — TU Chemnitz Institut für Physik
Die Wärmeleitfähigkeit dünner Schichten mit einer Dicke
unter 300nm ist schwer zugänglich. Wir berichten von einer
nahezu stationären Meßmethode, bei der die Wärmeleitfähigkeit
und der spezifische Widerstand der bei 6K
in situ auf einem speziellen Substrat präparierten Proben
gemessen wird. Damit ist es möglich, amorphe dünne Schichten
herzustellen und sofort
auf Tieftemperaturanomalien (z.B. Plateau) hin zu untersuchen.
Es werden Ergebnisse der Wärmeleitfähigkeit des Systems
CuxSn100−x
in Abhängigkeit von der Temperatur und der Konzentration x im
Temperaturbereich von 1.2K bis 350K vorgestellt.
Nach der Separation des elektronischen Anteils mit Hilfe
des Wiedemann–Franzschen Gesetzes diskutieren wir den
phononischen Beitrag im Zusammenhang mit
der Struktur der Proben.
Wir finden eine Verschiebung des Plateaubereiches mit x und damit
einen Zusammenhang mit spezifischen Struktureigenschaften der Proben
und gleichzeitig eine Korrelation mit
bereits bekannten Tieftemperaturanomalien in der Thermokraft.