Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 23: Amorphe Systeme und Defekte

TT 23.5: Vortrag

Freitag, 27. März 1998, 11:30–11:45, H 6

Tieftemperatureigenschaften von Verunreinigungen in Gläsern: eine Computerstudie — •A. Heuer¹ und P. Neu² — ¹Max-Planck-Institut für Polymerforschung, Ackermannweg 10, 55128 Mainz — ²Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA 02139, USA

Simulationen an einem einfachen Modellglas werden durchgeführt, um den Einfluss von Verunreinigungen bei tiefen Temperaturen zu studieren. Wenn die Verunreinigungen etwas kleiner als die übrigen Teilchen sind, zeigt die numerische Analyse, dass die Verunreinigungen sehr effizient zur Entstehung von Doppelmuldenpotentialen (DMPen) beitragen [1]. In Uebereinstimmung mit der Literatur werden diese DMPe als extrinsisch bezeichnet. Somit können schon kleine Beimischungen von Verunreinigungen die Tieftemperatureigenschaften erheblich beeinflussen. Es zeigt sich, dass extrinsische DMPe im Mittel grössere Potentialbarrieren als intrinische DMPe aufweisen und zusätzlich räumlich stärker lokalisiert sind. Interessanterweise wird auch die Bildung von intrinsischen DMPen in der Umgebung von Verunreinigungen beeinflusst. Mögliche experimentelle Bezüge dieser Ergebnisse werden diskutiert.

[1] A. Heuer, P. Neu, J. Chem. Phys. 107 (1997).