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A: Atomphysik

A 1: Spektroskopie I

A 1.2: Vortrag

Montag, 15. März 1999, 14:45–15:00, TE2

Präzisionsmessungen von Oszillatorenstärken und Lebensdauern im Xenon-Atom – Semi-empirische Theorien im Test — •A. Schmitt, D. Lang und H. Schmoranzer — Fachbereich Physik, Universität Kaiserslautern, D-67553 Kaiserslautern

Die für die Edelgasatome Neon, Argon und Krypton semi-empirisch berechneten Oszillatorenstärken und Lebensdauern unterscheiden sich von den experimentellem Ergebnissen bereits durchgeführter Präzisionsmessungen lediglich im Rahmen von 5%. Dieses Resultat ist jedoch wegen der starken Konfigurationsmischung im Xenon-Atom nicht ohne weiters auf dieses System übertragbar. Das bislang vorhandene experimentelle Datenmaterial erlaubt wegen dessen Inkonsistenz keine Aussagen über die Zuverlässigkeit semi-empirischer Theorien für Xenon.

Diese Lücke wird in der vorliegenden Arbeit durch Präzisionsmessungen am Xenon-Atom geschlossen. Die optischen Oszillatorenstärken von fünf Resonanzlinien wurden mittels der keV-Elektronen-Energieverlust-Spektrometrie (HE-EELS) [1], d.h. durch inelastische Streuung schneller Elektronen, bestimmt. Weiterhin wurden die Lebensdauern der Zustände 2p₂, 2p₄ und 2p₆ mit der Methode der Strahl-Gas-Laser-Spektroskopie (BGLS) gemessen. In jedem Fall wurde eine Genauigkeit von einem Prozent oder besser erzielt (1σ).
[1] H. Roth, K. Lang, M. Ebelshäuser, D. Lang, H. Schmoranzer,

Phys. Lett. A 235, 551 (1997)

[2] H. Schmoranzer und U. Volz, Physica Scripta T47, 42, (1993)