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A: Atomphysik
A 17: Symposium Hochgeladene Ionen I
A 17.1: Fachvortrag
Freitag, 19. März 1999, 14:00–14:30, TE1
Formierung und Zerfall hohler Ionen in Stoessen mit Fullerenen und Oberflaechen — •Uwe Thumm — Dept. of Physics, Kansas State University, Manhattan, KS 66506, USA.
Bei der Wechselwirkung langsamer, hochgeladener Ionen mit
Clustern oder Oberflaechen fuehrt mehrfacher Elektroneneinfang zur
voruebergehenden Bildung von mehrfach angeregten, instabilen Ionen.
Diese hohlen Ionen zerfallen waehrend und kurz nach dem Stoss, und
die dabei emittierten Elektronen und Photonen
ermoeglichen Rueckschluesse auf die Natur der Einfangs- und Zerfallsprozesse
und auf Eigenschaften des Targets.
Es werden mehrere Aspekte solcher Stoesse innerhalb
eines hauptsaechlich klassischen Modells diskutiert. Fuer
C60 Targets werden dabei
die Besetzungs- und Ladungszustandsentwicklung von Target und
Projektil, der kinetische Energiegewinn des Projektils,
Wirkungsquerschnitte fuer mehrfachen Einfang
und die Winkelverteilung gestreuter Ionen im Vergleich mit
mit neueren Messungen besprochen.
Fuer Stoesse mit Oberflaechen werden isolatorspezifische Effekte
in ihrem Einfluss auf Austauschdynamik und Bildladung–Energiegewinne,
Elektronenemission, die Ladungszustandsverteilung reflektierter
Projektile, sowie quantenmechanische ab–initio Ansaetze
dargestellt.