Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help
A: Atomphysik
A 18: Symposium Hochgeladene Ionen II Poster
A 18.23: Poster
Friday, March 19, 1999, 15:00–16:30, PY
Einfach- und Doppelionisation von Helium und Neon in hochenergetischen Schwerionenstößen — •H. Kollmus1, W. Schmitt1, R. Moshammer1, R. Mann2, A. Cassimi3 und J. Ullrich1 — 1Albert-Ludwigs-Universität, Hermann-Herder-Str. 3, D-79104 Freiburg — 2GSI, Planckstraße 1, D-64291 Darmstadt — 3CIRIL, Rue Claude Bloch, BP 5133,14040 Caen, France
Mit dem bei der GSI entwickelten Rückstoßionen-Elektronen-Impulsspektrometer [1], dem sogenannten “Reaktionsmikroskop”, wurde erstmals die Einfach- und Doppelionisation von Helium und Neon in Stößen mit 1 GeV/u U92+-Ionen kinematisch vollständig untersucht. In einem solchen Stoßsystem überträgt das Projektil, ähnlich wie bei der Photoionisation, nur einen vernachlässigbar kleinen Impuls, d.h. die Impulsbilanz wird im wesentlichen zwischen den Elektronen und den korrespondierenden Rückstoßionen ausgetragen. Diese Reaktionsfragmente werden in unserem Spektrometer mit höchster Präzision vermessen.
Während die Stoßzeit ca. 2 as (1 as = 1 x 10−18 s) beträgt, ist die typische Umlauffrequenz eines Elektrons ca. 60 as. Unter solchen Bedingungen sollten die gemessenen Impulse der Elektronen deren anfängliche atomare Impulsverteilung wiederspiegeln. Es wird die Einfachionisation von Helium vorgestellt und mit Rechnungen, welche das Weizsäcker-Williams-Modell der äquivalenten Photonen benutzen, verglichen. Erste Messungen zur Doppelionisation von Neon werden präsentiert und der Vergleich zur Photoionisation diskutiert.
[1] H. Kollmus at all., Nucl. Inst. Meth. B 124 (1997), p. 377
[2] R. Moshammer et al., Phys. Rev. Lett. 79 (1997), P. 3621