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A: Atomphysik
A 19: Symposium Hochgeladene Ionen III
A 19.5: Vortrag
Freitag, 19. März 1999, 17:45–18:00, TE1
Rückstoßionen-Impulsspektroskopie am Schwerionen-Speicherring ESR — •H. Kollmus1, R. Mann2, C.L. Cocke3, W. Schmitt1, R. Moshammer1, S. Hagmann3, A. Cassimi4, L. Adoui4, T. Zouros5 und J. Ullrich1 — 1Universität Freiburg, D-79104 Freiburg — 2GSI, Planckstraße 1, D-64291 Darmstadt — 3Kansas State University, Manhatten, 66506 Kansas, USA — 4CIRIL, Rue Claude Bloch, BP 5133,14040 Caen, France — 5Universität Creta, 71003 Heraklion, Griechenland
Die Kombination von Rückstoßionen- und Elektronen-Impulsspektroskopie [1] hat sich in den letzten Jahren als universelle Technik zur detaillierten Untersuchung atomarer Stoßprozesse etabliert. Die Einfach- und Mehrfachionisation von Atomen wurde mit dieser Methode zum ersten Mal mit verschiedenen Projektil-Ionen kinematisch vollständig vermessen.
Das 1997 am Speicherring ESR der GSI in Betrieb genommene Rückstoßionen-Spektromenter macht aufgrund der hohen Strahlströme und der Strahlpulsung im Speicherring Ion-Atom-Reaktionen mit sehr niedrigen Wirkungsquerschnitten in akzeptablen Meßzeiten zugänglich. Erste Messungen zur Stoßparameterabhängigkeit der Innerschalenionisation [2] wurden an wasserstoffähnlicher Pb81+-Ionen durchgeführt.
Bei der Targetionisation werden pro zirkulierendem Projektil ca. 10 Rückstoßionen pro Sekunde erzeugt und nachgewiesen. Damit können einzelne gespeicherte Ionen mit hoher Sensitivität nachgewiesen und deren Lebenszeiten bestimmt werden. Im Vortrag werden die Ergebnisse präsentiert und zukünftige Perspektiven diskutiert.
[1] J. Ullrich et al., Topical Review, J. Phys. B 30 (1997) 2917
[2] http://www.gsi.de/web-bin/ap-bin/ap-experiment?E016