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A: Atomphysik

A 7: Stöße I

A 7.2: Vortrag

Dienstag, 16. März 1999, 14:15–14:30, TE4

Teilchenspurradius aus Messung der Sekundärionenemission — •R. Neugebauer, R. Wünsch, T. Jalowy und K.O. Groeneveld — Institut für Kernphysik der J.W.Goethe Universität, August-Euler-Str.6, D-60486 Frankfurt am Main, Germany

Schnelle geladene Projektile (E_P/M_P >25keV/u), die mit einem Festkörper wechselwirken deponieren einen Teil ihrer kinetischen Energie entlang ihrer Trajektorie im Festkörper. Diese geladene, zylindersymmetrische Zone im Targetmaterial bezeichnet man als Teilchenspur.
Sekundärteilchen an der Festkörperoberfläche können im Bereich der Teilchenspur ins Vakuum emittieren und dienen als Sonden, die Informationen zum Spurbildungsprozeß enthalten.
Ein molekulares Projektil (hier: N₂⁺)wird in den ersten Atomlagen nach Eindringen in den Festkörper durch “Coulomexplosion “aufgebrochen. Je weiter das Projektil in den Festkörper eindringt, umso mehr separieren sich die beiden Fragmente voneinander unter der abstoßenden Coulombkraft, so daß sich die gemeinsame Teilchenspur trennt, und die Fragmente sich wie unabhängige Teilchen verhalten.
Mit einem TOF-Spektrometer wurden unter Hoch-Vakuumbedingungen Sekundärionenausbeuten Y von N₂⁺ (800 keV) und N⁺-Projektilen (400 keV) von der Eintritts- und Austrittsoberfläche eines Kohlenstofftargets in Abhängigkeit der Targetdicke (85Åbis 918Å) mit einander verglichen. Der Quotient R(d)=Y(N₂⁺)/(2Y(N⁺)) für verschiedene Sekundärionenausbeuten(H⁺, C₂H_x, usw.) wurde in Abhängigkeit von der Targetdicke d untersucht.