Heidelberg 1999 – wissenschaftliches Programm

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K: Kurzzeitphysik

K 5: Hochleistungs-/Impulssysteme, pulsformende Elemente und Schalter

K 5.6: Vortrag

Dienstag, 16. März 1999, 17:45–18:00, GE1

Untersuchungen zum Stromabreißverhalten bei Metall- und SiC-Elektroden in Pseudofunkenschaltern — •Ch. Bickes, V. Arsov, K. Frank, M. Iberler, U. Prucker, A. Rainer, J. Schwab, J. Urban und W. Weisser — Universität Erlangen, Erwin-Rommel-Str. 1, D-91058 Erlangen

Stromabreißen im Verlauf einer Pseudofunkenentladung stellt für potentielle Anwendungen ein gravierendes Problem dar. Die auftretenden Spannungsspitzen können die Zerstörung der Schalterperipherie verursachen. Zur Lösung dieses Problems wurden verschiedene Ansätze untersucht. Einerseits wurde die Elektrodengeometrie verändert, um durch größeren Bohrlochdurchmesser oder Ringspaltgeometrie die Entkopplung zwischen Hohlkathode und Elektrode im Verlauf der Entladung zu verzögern, zum anderen konnte durch unterschiedliche Elektrodenmaterialien eine Veränderung der Stromabreißcharaktristik beobachtet werden. Ein weiterer untersuchter Punkt ist die Beimengung von Edelgasen zum Entladegas, die zusätzlich Einfluß auf das Stromabreißen hat.