Heidelberg 1999 – scientific programme
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MS: Massenspektrometrie
MS 3: Elektrospraymassenspektrometrie, Cluster
MS 3.7: Talk
Monday, March 15, 1999, 18:00–18:15, PA 3
Streuung von hyperthermischen Helium-, Xenon- und Fullerenionen an Graphit — •Matthias Hillenkamp1, Jörg Pfister1, Roger P. Webb2 und Manfred M. Kappes1 — 1Institut für physikalische Chemie, Universität Karlsruhe, Kaiserstr. 12, 76128 Karlsruhe — 2Department of Electronics and Electrical Engineering, University of Surrey, Guildford, GU2 5XH, UK
Die Streuung von hyperthermischen Heliumionen an Graphit läßt sich
sehr gut durch binäre Stöße zwischen Projektil und einem Targetatom
beschreiben. Während diese Stöße bei beliebigen Stoßparametern zu
einer breiten Winkel- und Energieverteilung führen, werden sehr viel
schwerere und größere Xenonprojektile nur unter bestimmten
Stoßbedingungen an einem kollektiven Potential gestreut. Daraus folgt
eine sehr viel schmalere (<5∘ FWHM) und spekulare Winkelverteilung der
neutralen Streuprodukte, die im wesentlichen der Divergenz des
Primärstrahls entspricht.
Eine vergleichbare Situation ergibt sich beim Beschuß von Graphit mit
ebenfalls (nahezu) sphärischen Fullerenionen. Auch in diesem Fall
erhält man eine extrem schmale Winkelverteilung, allerdings müssen
Kollektiveffekte wie Energieübertrag in innere Anregung und die
Oberfläche berücksichtigt werden. Dazu wurden
Molekulardynamikrechnungen, die Energie- und Winkelverteilungen beschreiben,
durchgeführt.