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P: Plasmaphysik

P 24: Entladungen (Poster)

P 24.12: Poster

Dienstag, 16. März 1999, 16:30–19:00, PY

Lasergestützte Verfahren zur Messung der Ladung und Abschirmung in Plasmakristallen — •A. Melzer, A. Homann und A. Piel — Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Christian-Albrechts-Universität Kiel, 24098 Kiel

Plasmakristalle haben sich in den letzten Jahren als Modellsystem für die Untersuchung der Eigenschaften staubiger Plasmen sowie der Kristallisation, der Phasenübergänge und Defekte in stark gekoppelten Systemen etabliert. Plasmakristalle bestehen aus mikrometergroßen, monodispersen Plastikpartikeln, die (üblicherweise) in der Randschicht von Hochfrequenzentladungen gefangen sind. Dort können die Partikel aufgrund ihrer gegenseitigen Coulombabstoßung regelmäßige Strukturen, den Plasmakristall, bilden. Die Ladung der Partikel und ihre Abschirmung in der Randschicht spielen bei dem Verhalten dieser Kristalle die entscheidende Rolle. Es werden deshalb hier verschiedene Methoden vorgestellt, die es erlauben, zum einen die Ladung der Partikel und zum anderen die Abschirmeigenschaften direkt in der Randschicht zu messen. Dabei werden lasergestützte Verfahren zur gezielten Beeinflussung der Partikel eingesetzt, um die Randschichtumgebung nicht zu stören. Die Ergebnisse dieser Untersuchungen werden vorgestellt und mit theoretischen Modellen verglichen.