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P: Plasmaphysik

P 9: Diagnostik II

P 9.3: Vortrag

Dienstag, 16. März 1999, 14:45–15:00, ZO 2

Konsequenzen der Verwendung einer realistischen bedingten Kovarianz in MMM-Rechnungen — •Stefan Sorge¹, Sibylle Günter² und Gerd Röpke¹ — ¹Universität Rostock, Fachbereich Physik, Universitätsplatz 3, D-18051 Rostock — ²Max-Planck-Institut für Plasmaphysik, Boltzmannstraße 2, D-85748 Garching

Eine Methode zur Einbeziehung der Dynamik des von den Plasmaionen erzeugten Mikrofeldes in Linienprofilberechnungen ist die Modellmikrofeld-Methode (MMM). Aus der Art der Modellierung des ionischen Mikrofeldes in dieser Methode folgt ein Kurzzeitverhalten der bedingten Kovarianz dieses Mikrofeldes, das signifikant von dem einer bedingten Kovarianz abweicht, die mittels einer mikroskopischen Beschreibung der Ionenbewegung berechnet wurde (mikroskopische bedingte Kovarianz).

In diesem Beitrag werden Wasserstoff-L_α-Profile vorgestellt, die im Rahmen der MMM mit der mikroskopischen bedingten Kovarianz berechnet wurden. Es zeigt sich, daß in Abhängigkeit von der reduzierten Strahler-Störer-Masse diese MMM-Rechnungen zu unphysikalischen Linienprofilen führen können. Zum Vergleich werden Linienprofile aus MMM-Rechnungen, in denen die bedingte Kovarianz des Känguruh-Prozesses verwendet wurde, und aus Simulationsrechnungen gezeigt.