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Q: Quantenoptik

Q 14: Optische Technik II

Q 14.3: Vortrag

Montag, 15. März 1999, 17:15–17:30, AM3

Summenfrequenz-Mikroskopie - Abbildung der Infraroteigenschaften von Grenzflächen mit hoher räumlicher Auflösung — •M. Flörsheimer, Ch. Brillert und H. Fuchs — WWU Münster, Physikalisches Institut, Wilhelm-Klemm-Str. 10, 48149 Münster

Das Verfahren basiert auf der Beleuchtung einer Grenzfläche mit zwei intensiven, gepulsten Laserstrahlen. Einer der Laser ist abstimmbar auf Infrarot-Absorptionsbanden der Probenmoleküle. Der andere Laser liefert sichtbares Licht. Selektiv an der Grenzfläche wird das Summenfrequenz (SF)-Signal erzeugt, das ebenfalls im sichtbaren Spektrum liegt. Die Grenzfläche wird im Lichte des SF-Signals über ein linear optisches Polarisationsmikroskop und eine Restlichtkamera beobachtet. Das Verfahren sondiert die Infraroteigenschaften der Probe mit der räumlichen Auflösung eines Mikroskops, das im sichtbaren Spektralbereich arbeitet. Die Technik ist auf zahlreiche reale Grenzflächen anwendbar - einschließlich vergrabener Grenzflächen. Sie liefert Information über die chemische Zusammensetzung der Grenzfläche sowie über die Konformation und Orientierung der Moleküle.