Heidelberg 1999 – scientific programme

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T: Teilchenphysik

T 609: Halbleiterdetektoren 5

T 609.1: Talk

Thursday, March 18, 1999, 16:30–16:45, TE12

Die Siliziumstreifendetektoren des ZEUS Mikrovertexdetektors — •Dominik Dannheim — Universität Hamburg, II. Inst. f. Experimentalphysik, Luruper Chaussee 149, D-22761 Hamburg

Für die Streifenzähler des ZEUS Mikrovertexdetektors, der das Strahlrohr im zentralen Bereich umgibt, wird eine Ortsauflösung von 10 µm angestrebt. Das Ziel, die Anzahl der elektronischen Auslesekanäle möglichst gering zu halten, wird durch kapazitive Ladungsteilung mit jeweils 5 intermediären Streifen zwischen 2 Auslesestreifen erreicht. Jedes der einseitigen Detektormodule hat eine Dicke von 300 µm und besteht aus 512 Auslesestreifen in einem Abstand von 120 µm. Signal-Rausch-Verhältnis und Signalverlust werden durch Leckströme und im Detektor vorhandene Kapazitäten beeinflußt. Zur Qualitätskontrolle werden diese Größen durch I/V und C/V Messungen an einem Teststand ermittelt. Es werden sowohl die Detektoren selbst als auch zu jedem Detektor auf demselben Waver hergestellte Teststrukturen untersucht. Eine SPICE Simulation der elektrischen Ersatzschaltung des Detektors wird mit den Meßergebnissen verglichen. Der Einfluß von 2 kGy Neutronenstrahlung (Bulkschädigung) und 10 kGy niederenergetischer Elektronenstrahlung (Oxidschädigung) auf die elektrischen Detektoreigenschaften ist zur Kontrolle der im späteren Betrieb erforderlichen Strahlenhärte untersucht worden.