Heidelberg 1999 – wissenschaftliches Programm

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T: Teilchenphysik

T 609: Halbleiterdetektoren 5

T 609.2: Vortrag

Donnerstag, 18. März 1999, 16:45–17:00, TE12

Aufbau einer Testanlage für Mikrostreifendetektoren — •Marcus Schilling, Peter Blüm, Frank Hartmann, Kurt Kärcher, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Wolf Hagen Thümmel — Institut für Exp. Kernphysik, Universität Karlsruhe

Fuer die Entwicklung von Mikrostreifendetektoren werden Meßtationen benötigt, die durch Kapazitäts- und Strommessungen die Mikrostrukturen auf mögliche Fehler untersuchen. Für den Bau des CMS-Vorwärtsspurdetektors und des CDF-Siliziumstreifendetektors ISL wurde eine Testanlage aufgebaut, die neben der Möglichkeit des elektrischen Abtastens auch das Schneiden von Glas- und Siliziumsubstraten mit der Präzision von wenigen Mikrometern ermöglicht. Es werden die Operation dieser Anlage und erste Messergebnisse vorgestellt.