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AM: Magnetismus
AM 10: Postersitzung
AM 10.51: Poster
Dienstag, 23. März 1999, 16:15–20:00, F\"urstenberghaus
In-situ Charakterisierung von heteroepitaktischen Vielschichtsystemen aus Übergangsmetalloxiden† — •J. Klein, C. Höfener, S. Thienhaus, S. Afilal, L. Alff und R. Gross — Lehrstuhl für Angewandte Physik, II. Physikalisches Institut, Universität zu Köln, Zülpicherstr. 77, D-50937 Köln
Die Materialklasse der Übergangsmetalloxide zeigt interessante physikalische
Effekte wie z. B. Hochtemperatur-Supraleitung und kolossalen
Magnetwiderstand. Aufgrund der komplexen Kristallstruktur dieser Materialien
ist ein perfektes Lagenwachstum einer oder mehrerer oxidischer Schichten
schwierig zu realisieren. Zur Analyse des Wachstumsprozesses in einer
Laserablationsanlage benutzen wir Reflection High Energy Electron
Diffraction (RHEED), das mittels eines speziellen Aufbaus auch bei den hohen
Sauerstoffpartialdrücken von etwa 200 mTorr in-situ während des
Filmwachstums betrieben werden kann. Weiterhin können die Filme ebenfalls
in-situ durch rastersondenmikroskopische Methoden charakterisiert
werden. Die in-situ Methoden werden ergänzt durch
Röntgendiffraktometrie und Untersuchung der elektrischen
Transporteigenschaften. Der Schwerpunkt unserer Untersuchungen liegt bei den
Materialien La2/3D1/3MnO3 mit D= Ba, Ca und Sr. Ebenfalls
untersucht werden anisotrope Schichtmanganate der Zusammensetzung
Lan−nxSr1+nxMnnO3n+1.
† Diese Arbeit wird durch die DFG gefördert.